原文由 peggychenpy 发表:
在玻璃基板上生成了介孔氧化硅薄膜,在XRD上看到了衍射峰,证明是存在介孔结构存在。由于本人第一次接触TEM,虽然看了一些关于透射电镜的资料,但问了测试中心,需要我自己制备测试样,请问如何制备测透射电镜的样品!由于临近放假,所以请求大家尽快给点意见,谢谢!
原文由 (zdlkkk) 发表:原文由 peggychenpy 发表:
在玻璃基板上生成了介孔氧化硅薄膜,在XRD上看到了衍射峰,证明是存在介孔结构存在。由于本人第一次接触TEM,虽然看了一些关于透射电镜的资料,但问了测试中心,需要我自己制备测试样,请问如何制备测透射电镜的样品!由于临近放假,所以请求大家尽快给点意见,谢谢!
不知道你的玻璃基板是不是就是小玻璃片呢?
如果你想看界面的话就有点困难了。考虑到你可能没有制样设备,我想了一个小办法(如图),不知道能不能帮你。但是测试的时候能不能找到你要的边界区域就不好说了。
要是你不需要看界面和省长方向的话,可以刮下来点粉末就行了。
要是你长的是孔比较大的像SBA 15 什么的,可以找个好扫描电镜做一下。
我这个臭皮匠不知道能不能帮到你。