紫外可见分光光度计(UV)

主题:【线上讲座之十】:分光光度计的检测器(答疑结束)

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欢迎大家前来与nemoium(nemoium)先生一起就分光光度计的检测器知识进行交流切磋~!活动时间:2009年3月17日——3月31日
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线上讲座第十期:分光光度计的检测器


提问参与时间:2009年3月17日---3月22日
答疑解惑时间:2009年3月23日---3月31日


我们再次热烈欢迎nemoium(nemoium)先生光临仪器论坛进行讲座!




导言:
2009年的第一期线上讲座受到广大用户的热烈好评,而第二期的线上讲座又如期来至。我们很荣幸地又再次邀请到了nemoium(nemoium)先生对我们的分光光度计的各种检测器知识进行全面的普及和拓展,对研究这个方面的仪器人不失是一期很好的讲座内容。
本期讲座共分五章,分别对分光光度计的五种检测器(电荷耦合检测器CCD、CMOS图像传感器、电荷注入检测器CID、PDA检测器、multi-anode PMT)进行详细的讲解和阐述,让我们更深刻地了解分光光度计的检测器系统。不管是刚接触者还是研究分光很深的人都有很大价值~
再次感谢nemoium(nemoium)先生提供的丰富的讲座,也感谢nemoium(nemoium)先生与大家一起交流心得和经验。nemoium(nemoium)先生从事光谱维护和维修多年,有很丰富的仪器维护与维修的经验。欢迎大家就分光光度计关于检测器方面的问题前来提问,也欢迎高手前来与之切磋~


特邀佳宾:
anping、tutm、zhouyuhu、 chemweb、renzhihai及各版面版主专家等
参与人员:
全体注册用户

活动细则:

1、请大家就分光光度计的检测器系统方面的学术问题进行提问,直接回复本帖子即可,自即日起提问截至日期2009年3月31日
2、凡积极参与且有自己的观点或言论的都有积分奖励(1-50分不等),提问的也有奖励
3、提问格式:
为了规范大家的提问格式,请按下面的规则来提问 :
尊敬的nemoium(nemoium)先生您好,我是仪器信息网会员***,对于……很感兴趣,
请问:……


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本期讲座的目录:

第四篇  光电检测器
第一章  电荷耦合检测器CCD
第一节  电荷的产生、存储和转移
第二节  CCD的分类和CCD的形象比喻
第二章  CMOS图像传感器
第三章  电荷注入检测器CID
第一节  CID的结构
第二节  CID检测光生电荷的过程
第三节  CID工作原理的形象比喻
第四章  PDA检测器
第五章  multi-anode PMT.


活动时间:
2009年2月25日---3月14日
答疑解惑时间:2009年3月4日---3月14日




说明:
本讲座中的大部分图片来自教育网站和公司网站的公开内容,也有一些图片来自网络收集,还有一些来自出版物扫描图片,因此本讲座内容仅用于个人学习,请勿用于商业用途,由此引发的法律纠纷本人概不负责。
虽然讲座的内容主要是对知识与经验的翻译、整理和总结,但是也凝聚着笔者大量心血,转载请注明出处。
    本讲座是根据笔者对资料的理解写的,理解片面、错误之处肯定是有,欢迎大家指正。如果您感到讲座中的图片不清晰,请利用论坛短信功能告知图片编号和您的email,笔者会及时提供给您。







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第一章  电荷耦合检测器Charge-Coupled Devices (CCD)



1970年,美国贝尔(Bell)实验室取得了电荷耦合器件(CCD)的专利。CCD的基本结构是由彼此非常靠近的一系列MOS电容组成的。CCD的基本功能就是电荷的产生、存储和转移。

第一节 电荷的产生、存储和转移


一、电荷的产生


如图4.1.1,在光的照射下,由于光电效应,产生了电荷(这里是电子,在CID讲解中,大家会看到光生空穴;电子是负电荷,空穴可以看成正电荷),随着光的持续照射,电荷越积越多。

二、电荷的存储
CCD的每个感光元件相当于一个电容。产生的电荷就存储在MOS电容中。

如图4.1.2,栅极可以看作电容的一极,  二氧化硅为电容的介质,高掺杂的P型硅为电容的另一 极,想想平行板电容器,这个就好理解了。

三、电荷的转移



图4.1.3中有几个MOS电容呢?比较图4.1.2看看。

    有三个黄框框A,B,C(每个黄框框就是图4.1.2中的栅极),就有三个MOS电容。如上面所说“CCD的基本结构是由彼此非常靠近的一系列MOS电容组成的。”
    图4.1.3中, 在光辐射的作用下,中间的黄框框下积累了电荷。如果三根绿线上同时施加有合适电压和相位的方波信号(图4.1.4,只是这个波形,实际相位是不同的),就可以把B黄框下的电荷转移到其他黄框框下,从而实现电荷的转移。



  如图4.1.3,在方波信号的驱动下,栅极B下的电荷,转移到栅极C下,然后转变为电压信号,通过模拟/数字信号转换器,变为用0和1表示的数字信号,送到信号处理电路处理。

    如果光辐射同时照射A,B,C三个黄框框,那在A,B,C三个黄框框下都积累了电荷,那怎么读取这三处电荷呢? 显然,可以先把C下的电荷移走,然后B -->C , 再 A --> B --> C,这样要消耗一定的时间,如果你还没能移走A,B,C下的电荷,光能量改变了,那我们这次检测就失败了,所以,有时,我们会觉得CCD转换速度不够快。

    假设我们有一个使用CCD作为检测器的分光光度计,这个CCD检测器只有3个感光单元,如果3个感光单元的间距合适,就可以同时记录从光栅色散来的3个波长的光能量。如果我们的CCD的感光单元再多些的话,我们就可以记录更多波长的光能量了。这就是光谱直读的原理。

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第一章 电荷耦合检测器Charge-Coupled Devices (CCD)

第二节    CCD的分类和CCD的形象比喻



一、CCD的分类CCD分为线型和面型两类。
以图2.3.1 这样的CCD 结构为例,线型和面型如图2.3.5.

注:上图中的每个黄框代表一个MOS电容即感光单元。

    我们上面解释原理的CCD,就是有3个检测单元的线型CCD。
    在分光光度计中,由于光栅色散的光谱是线性排列的一个个谱线,只要线性的CCD就够了,而且面型CCD的控制更加复杂,延时时间相应的也更长,所以,在分光光度计中一般都是使用的线型CCD。

二、CCD检测器的“木桶原理”

如图4.1.6中:
木桶  -------  MOS电容(CCD上的感光单元) 。     
雨滴  -------  每一个雨滴可以理解为光辐射的一个光子。
木桶中的雨水量  ----  MOS电容中存储的电荷。
量筒 ------  相当于图4.1.3中的信号处理电路。
输出传送带  ----- 可以理解为图4.1.3中的电荷转换电路和模数转换电路。
1,2,3编号 -----  水平传送带的编号。
1,2,3号传送带的驱动力  ------  相当于图4.1.3中绿线上施加的方波信号。

想像一个场景:  假如1,2,3号传送带上的12个木桶每个占据我们一个省份,今天我们全国下了一场大雨,一个个木桶中都存了不少的雨水。为了分析这12个省份的降水量分布图,我们通过驱动1,2,3号传送带把1,2,3号传送带上最右边的3个木桶移到输出传动带上,然后停止驱动1,2,3号传动带。如图4.1.6,输出传送带上已传好了3个木桶,接下来,我们驱动输出传送带,并使3个木桶中的水逐个倒入量筒中,并记录下来。然后,再驱动1,2,3号上移到最右边的3个木桶,使它们到输出传动带上。如此循环我们就可以量取这12个木桶中的雨量,12个省份的雨水分布图就一目了然。
显然,什么时候驱动(方波信号的有无)1,2,3号传动带和输出传动带,和驱动它们的顺序(方波信号的相位)是有要求的,不然木桶就要打架了。这就是上面所说,驱动三根绿线的方波信号,要有合适的电压和相位。

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第二章    CMOS图像传感器


CMOS图像传感器和CCD传感器,工作原理类似。用图4.1.3来说明,CMOS图像传感器并不像CCD那样把光生电荷移至电荷电压变化器,而是直接检测每个感光单元下的电荷。对CMOS来说,可以理解为将图4.1.3中的电荷电压转换电路集成到了每个MOS 电容上(这个说法可能不是很准确,由于在分析仪器中CMOS用的比较少,所以没有详细查资料,大家可以讨论下)。
与CMOS图像传感器相比,CCD具有优良的动态范围、较小的背景噪声和较高的光灵敏度。不过,CMOS传感器对功率的要求比CCD要低很多,而且CMOS传感器的成本比CCD的低。在一些不要求高分辨率和低背景噪声的场合,CMOS用的比较多,像现在的中、低端手机的摄像头,基本都采用的是CMOS图像传感器。分析仪器、天文观测仪器、高档数码相机一般都是采用的CCD图像传感器。

第三章  电荷注入检测器CID(charge injection device)



CID检测器发明于1973年。CID 读出方法是将电荷在检测单元内部移动,检测电压的变化。

第一节    CID的结构



图4.3.1是 CID的一个感光单元。

说明:
poly1,poly2 : 金属栅极。       
斜线区 : N型掺杂硅层  ; 直线区: P型掺杂硅衬底。
比较CCD的MOS电容构成原理,图4.3.1可以看成两个MOS电容,注,图中并没有明确画出SiO2(二氧化硅)绝缘层,在poly1和poly2下都有绝缘层,以与N型掺杂硅层隔离。
在图4.3.1中,第一个MOS电容 C1:poly1和N型硅掺杂层为电极,SiO2为介质。
            第二个MOS电容 C2: poly2和N型硅掺杂层为电极,SiO2为介质。
这两个MOS电容C1和C2可以看成串联在一起,设两个MOS电容串联后的等效电容值为C。
C值在CID制成后,电容值可以认为是常数。
根据电容存储的荷 Q = C* V  ,通过测量V值,就可以测得感光单元中存储的电荷量。
CCD的检测原理是把光生电荷转移出去再检测,由于电荷转移出去后,MOS电容中不再有电荷,所以叫破坏型读出方式。
CID是在每个检测单元上直接测,测量完毕后,光生电荷仍然存储在MOS电容中(可以参看下面的检测过程),所以叫非破坏型读出方式。

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第二节    CID 检测光生电荷的过程





注:图4.3.1,图4.3.2,图4.3.3,图4.3.4,图4.3.5来自文献7

说明:
+号:代表光生空穴(还记得CCD的光生电子吗?)。
注:并不是说CID都是光生空穴,CCD都是光生电子。N型掺杂区产生光生空穴,P型掺杂区产生光生电子,就是说跟半导体材料有关。
sense(-) = -5V      collection(-) = -7V。    sense(+)和collection(+)都代表正电压,文献中没给出具体电压值。

测量过程:
检测步骤是图4.3.2----> 图4.3.3 ------>图4.3.4----->图4.3.5。
    感光单元在光辐射的作用下,在N型掺杂硅层中形成光生空穴(就是正电荷)。图2是电荷积累的过程,poly2接-7V,poly1接-5V电压,所以,空穴在poly2下积累起来。接着,poly1接入放大器输入端,测量零位电压V0,如图4.3.3,然后,poly2切换到collection(+)上,光生空穴转移到poly1下,测得此时的信号电压V1,通过测量V1-V0之差,就可以精确测量光生空穴的数量。信号电压测量后,此时poly1和poly2的位置如图4.3.4,如果此时切换poly1到sense(-),poly1切换到collection(-),光生空穴就又转移到poly2下(从图4.3.4直接到图4.3.2,或者如图4.3.6中C. 2nd voltage sample 到A.integrate),这样,光生空穴可在poly1和poly2之间进行n次反复转移测量(图4.3.2,图4.3.3,图4.3.4的循环),从而将噪声大大降低,改善了信噪比。在图4.3.4的状态下,如果不需要再次测量光生空穴量,那么poly1切换到sense(+), poly2保持在collection(+)位置,则光生空穴转移入P型掺杂硅衬底中,如图4.3.5(或图4.3.6中的D.inject),此时感光单元又恢复了初始状态,可以进入新一轮的光电转换过程。


再附上另一个不错的CID工作原理图


比较一下图4.3.6和图4.3.2、4.3.3、4.3.4、4.3.5,可以发现原理是一样的。


如前面所述, Q = C*V,  △V = V1 - V2 ,  ,所以就能计算出电荷C。
也许会说,是不是只测量V1或V2就能计算出光生电荷量Q呢,我认为是可以的,测量V1和V2的差值可以更精确的计算光生电荷量Q。

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第三节    CID工作原理的形象比喻




如图4.3.8 ,在每个4X4的栅格中,都放着一个量筒和一个烧杯。
雨水------  光辐射
烧杯------  MOS电容
烧杯中雨水------- 积累的光生电荷
量筒  --------  测量光生电荷 



4.3.9中每个4X4栅格的灰色背景,可以理解为图4.3.2、4.3.3、4.3.4、4.3.5中的P型掺杂硅衬底。
如图4.3.9中的2号栅格,测量光生电荷的过程可以在本格内完成,不需要转移。图4.3.3相当于,将烧杯中的水倒入量筒,如果需要多次测量光生电荷,把量筒中的雨水再倒入烧杯中,如此循环。注意下图4.3.9中的6号栅格,雨水泼洒在灰色地带(P型掺杂硅衬底),就是图4.3.5所说的积累空穴扩散入衬底,或者图4.3.6中的D.inject , 此时烧杯和量筒都空了,又可以接收新的雨水。
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第四章  PDA(Photodiode Array )检测器


PDA上的每个感光单元可以看成一个光电二极管。

PDA的原理示意如图4.4.1





图4.4.3是SCINCO 公司的S3100 PDA光度计的光路图。


图4.4.4是S3100 的特殊的光路设计示意图,使的环境光的影响达到最小,从而可以打开样品室盖工作。
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第五章  multi-anode PMT


    众所周知,PMT(光电倍增管)的优点是频谱响应范围宽,灵敏度高,响应速度快(纳秒级),但是PMT不能提供同时记录全谱。这里介绍一种多阳极PMT,可用于全镨直读--------日本浜松(HAMAMATSU)公司的multi-anode PMT。

一。multi-anode PMT介绍

HAMAMATSU公司的multi-anode PMT产品如图4.5.1.




注:图4.5.2中的灰色弧线代表电子。可以看到灰色弧线越来越密-----倍增效应。
比较下图4.5.2和图4.5.1中右边那个放大图,可以看出,multi-anode PMT可以看成多个PMT集成在一个封装里。每个阳极都外连一个输出脚。图4.5.1是32个阳极的multi-anode PMT。

二、multi-anode PMT的工作原理

multi-anode PMT的电子倍增原理和传统的PMT是一样的,就不多说了。

图4.5.1中的multi-anode PMT可以看成32个微型PMT线性排列而成。经光栅色散的匀排光谱同时照射到32个PMT上,从而实现了全镨直读。
顺便补充一下,线型排列的固态成像器件,比如线型CCD,PDA, 和这个32-anode PMT,都是只能检测 x轴方向的光子分布,不能提供沿y轴的光子分布。
不过,也有面型分布的multi-anode PMT,可以提供光子沿x,y方向的分布信息。有一种64-anode PMT产品,阳极是8x8矩阵排列, 它的入射光窗是1.8cmx1.8cm,可以提供比较粗糙的二维光强分布信息。
另外,这种32-anode PMT,各个阳极的灵敏度是不同的,这主要是因为各阳极对应的阴极和倍增极的灵敏度不同。而且各个相邻的阳极之间也会产生干扰。


三、32-anode PMT的一些应用




图4.5.3中,示意了32-anode PMT 的3种应用。
Config.1 :  测试不同方向的散射光的能量分布。
Config.2 :  全谱直读方式。
Config.3 :  可以获得三维光谱图(时间--波长---光强)
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欢迎对分光光度计感兴趣的朋友前来与nemoium(nemoium)先生进行交流切磋。以上为nemoium(nemoium)先生所著,未经nemoium(nemoium)先生和仪器信息网同意任何个人和单位禁止转载!!!

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