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ID:xgq_2001
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尽管X射线可穿透样品很深但只有样品近表面一薄层发射出的光电子可逃逸出
来电子的逃逸深度和非弹性散射自由程为同一数量级范围从致密材料如金属的约
1nm到许多有机材料如聚合物的5nm 因而这一技术对固体材料表面存在的元素极为
灵敏这一基本特征再加上非结构破坏性测试能力和可获得化学信息的能力使得
XPS成为表面分析的极有力工具。
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