主题：【原创】varian --FACT及数学原理

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发表于：2010/08/09 20:02:08 楼主管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

FACT 快速自动曲线拟合技术
概论

FACT 是对被分析元素和干扰元素的标样分别进行测量，用所得到的谱图数据进行图形解析，从而将被分析谱线旁边的干扰谱线剥离出去。

采用 FACTwizard, 你需要对被分析元素的纯标样、空白和干扰溶液进行测量，建立谱形模型。一旦你对每个模型的谱图感到满意后，该模型将被储存在方法中。然后可在该模型中测试 FACT 矫正的效果。在以后的分析当中，每条被测量谱线将依照其所建立的相应的模型对谱图进行解析。由被分析元素所产生的解析峰将参与被分析元素强度的计算。

[img=516,320]file:///C:/DOCUME%7E1/ADMINI%7E1/LOCALS%7E1/Temp/msohtml1/06/clip_image002.jpg[/img]

可在一个方法中建立多达 10个 FACT 模型，在模型中可包括空白、被分析元素、基体和多达七个干扰物模型。基体和空白模型将对所有被分析元素有效。

当进行 FACT 模型建立时，必须采用纯的干扰物样品和纯的被分析元素样品来进行，因模型建立过程中计算假设所采用的溶液为纯元素样品。需要注意的是，所建立的被分析元素模型最好能够与被分析样品中被分析元素接近。

[list=disc]

进空白溶液，建立空白模型

进基体溶液，建立基体模型 (选项)

进纯的被分析元素溶液，建立被分析元素模型

进纯的干扰元素溶液，建立若干干扰物模型

选择模型

[img=461,379]file:///C:/DOCUME%7E1/ADMINI%7E1/LOCALS%7E1/Temp/msohtml1/06/clip_image004.jpg[/img] 测试 FACT

icp-oes分析中的光谱干扰可分为背景干扰及谱线重叠干扰两大类，背景干扰可用常量，波长的一次函数和波长的二次函数等表示。由谱线强度的加和性，可知波长相近的两条谱线重叠时，任意波长的强度值等于两条单独谱线在此的强度值之和。从光谱谱线的加和性出发，可以认为任何实际光谱干扰波形均是若干成分谱线与光谱背景（常量，波长的一次或二次函数）的叠加，光谱干扰的校正问题即可转化为如何根据实际分析情况，叙述而准确的完成波形的分解问题，这实际上是谱线拟合的问题。

谱线拟合实质上是一种分辨技术，即用数学方法将从跌的总响应曲线分开成单个组分响应的技术，这类方法首先通过理论或实验实测以确定各组分响应的模型，然后在某种最有准则下有总响应曲线数据按照某种算法来确定各组分响应模型的参数，从而达到分辨的目的。

配置一系列混合标准溶液在此波长下进行测定，经过回归运算，可求出各元素在该波长的响应灵敏度及体系的空白响应值。同样的可在其他波长做类似处理得到一个线性方程组。将待测溶液在上述各波长下的强度值代入相应方程并求解，得到各待测元素的浓度，这就是（MLR）.即varian FACT和PE的MSF.