主题:【求助】X-射线荧光光谱的定量原理是什么

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qaz15000
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各位老师,大家好,我需要 X-射线荧光光谱对一个样品中的二氧化硅进行测定,供应商给了个方法,采用压片法进行测定,没看的太懂。我想请教大家,定量样品中的二氧化硅需要采用对照品么,对照品怎么制备,厂家给的方法说采用商业化定制的对照品。
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玉米馒头
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你测的样品是啥?粉末压片的话,对照样品需要和你的实际样品组成粒度尽可能相近,以降低粒度效应和价态影响,同时基体效应校正也更靠谱。对照样品也可以说是标准样品,可以自制也可以外购。
sonne86400
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楼上解释很到位 目数相近 基体相似拉出来标线 做个半定量才会准
qaz15000
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原文由 玉米馒头(alhoon) 发表:
你测的样品是啥?粉末压片的话,对照样品需要和你的实际样品组成粒度尽可能相近,以降低粒度效应和价态影响,同时基体效应校正也更靠谱。对照样品也可以说是标准样品,可以自制也可以外购。
感觉做起来很复杂,也没有设备,不大好弄。
玉米馒头
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原文由 qaz15000(qaz15000) 发表:
感觉做起来很复杂,也没有设备,不大好弄。
那就外购呗,简单直接,自制成本其实也不见得低。
XRF光管和探头
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SiO2应该用波长分辨的XRF仪器。
分析分相对方法和绝对法,相对法都要标样。
自己做标样也很简单。
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