主题：【讨论】点分辨率被人遗忘了吗？

原文由 我不是龙哥(m3002960) 发表:是不是现在真正专业的人更少了，直接拿原子像更好忽悠人了！(′?ω?｀)

原文由 m3033883(m3033883) 发表:我看以前的电镜广告。测定点分辨，是用非晶的锗膜（上面有一些金纳米颗粒）。然后看非晶的傅立叶变换里面那个大白圆的直径到金的哪个面（相当于标准）。晶格分辨用单晶金标样。看傅立叶变换后的点到哪个面。fei不提点分辨率。为什么呢？不知道。现在日本电子好像也不怎么提了。大家都直接用金纳米颗粒定晶格分辨。用单晶硅定stem的分辨。

原文由 imrszl(Ins_509a97bd) 发表:TEM高分辨像看到的点大多情况下都不是原子势的真实投影，本来就是fringe，用lattice resolution也行吧，如果要用系列波重构法，那就看information resolution。TEM像只有在满足Scherzer defocus（或者extended Scherzer defocus）和WPO近似时，才能认为是原子势的投影，达到点分辨率极限的要求太苛刻了，在实际情况下往往也很难判断是不是在Scherzer defocus下。point resolution作为一个指标只能告诉你电镜的极限，而这个极限往往达不到，这样的指标其实对用户来说意义并不是太大，我觉得厂家是出于这样的考虑才不展示这个指标的？不过据我所知现在电镜验收时还是要看point resolution的。比起TEM像，现在更流行用HAADF像分析缺陷，STEM像的CTF都是单值的，且更容易满足柱体近似，图像是原子势能的真实投影，也就不存在TEM下会遇到的假象问题，分辨率通常往往也容易衡量，看probe size或者Ronchigram的张角就行，极限分辨率也是更容易达到的。

原文由 m3032435(m3032435) 发表:是啊，原子分辨直中要害^_^

原文由 m3032435(m3032435) 发表:你说的没错～只是就是有点歪楼～STE M-haadf确实比较容易得到超高分辨的原子像～但TEM也有它的优势～准确在sherzer欠焦不易，但其实想要超过其确定的分辨率却很容易，几乎是一不小心就超了～只是不容易分析罢了