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原文由 templus 发表:
我觉得不是磁性造成的。
因为高分辨时，物镜工作，样品处磁场强度约为2T,且平行光轴， 因此样品应该被完全磁化至平行光轴方向，样品内部磁场不太可能对同样平行光轴方向的电子起作用。
即使是在低倍的lorentz microscopy模式，物镜关闭,还存在水平方向的磁场，那么电子强束穿过样品仅仅位相会受磁场影响有变化，幅度不会变化，因此聚焦情况下看不到磁畴壁处图像强度的变化，只有在深度欠焦或聚焦时，才可能观察到畴壁。这时欠焦或聚焦量达毫米级。
而高分辨焦距改变一般不过几十上百纳米，应该看不到强度的变化。而且强度的变化范围在微米级别以上区域。
我做过一些FeCo纳米晶软磁材料的TEM研究，在lorentz模式和全息模式下均清楚看到磁畴的分布和磁力线分布，但是在物镜工作的高分辨模式下，无定形区域，正确聚焦的情况下，均没有类似现象，和非磁样品一样。
而且楼主的照片，任意取一小区域，作傅立叶变换，仍然会有同样的现象。这就说明不是样品某一处衬度的特征造成的，而是整个图像的效应。
因此我觉得还是像散造成的，可能聚焦也不太正确。
当然还有一种可能，电压中心或电流中心没有调整好，那么电子束并不平行于光轴，但是这仅仅相当于样品内部磁场叠加于样品处物镜磁场，两者方向肯定是相同的，只是需要重新聚焦，也应该不会出图中的情况。
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