原文由 iangie(iangie) 发表:现在是全谱拟合的时代了 -- 将CuKalpha5 (严格地说有5个波长,不是只有alpha1 alpha2两个波长)晶胞畸变对峰形(宽)的影响build到全谱拟合模型中,计算出跟实测全谱(原始数据)一致的计算谱。不需要对原始数据分峰处理。用弯晶单色器会损失90%的CuKalpha强度。感谢!我们通常认为用传统xrd定量铁基位错密度不够可靠。这其中主要的因素是因为Cu靶的高荧光背景?K beta, 抑或是K alpha的因素呢?如果采用全谱拟合的手段,是否能够避免这些因素对位错密度(峰宽化)的影响了呢?感谢!