主题：【求助】有人能告诉我XRF中液氮冷却与电子冷却之间的区别和影响吗？

原文由 tonyan2000 发表:
应该说是对于能量色散X荧光光谱仪使用的半导体检测中硅漂移检测器使用的冷却方式，Si(Li)检测器需要将其冷却到-88摄氏度以后 检测器的背景信号才比较良好，其背景信号和温度的关系很大。液冷的效果是很好的，但是操作不方便，而且容易冻伤手。现在改进的帕尔贴制冷（电制冷）的SDD检测器也不错的。不清楚Si(Li)检测器现在的电制冷能做到什么地步，原先听热电人忽悠 感觉有点悬。而且热电的那款仪器定价偏高。

原文由 long_risun 发表:
液氮制冷和电子制冷是两种不同的方式，液氮制冷技术比较成熟，故障率低，经常要加液氮有点麻烦，但液氮是惰性气体并不会对人体产生伤害作用。液氮制冷可以达到-196C,而电子制冷只能达到-70C，检测器要在-80C以下才可以更好的工作，所以在电子制冷技术还不是很完善的现在，我们还是提倡用液氮制冷，某一天电子制冷技术成熟了，故障率低了，那是很好的事情，哈哈。。。
希望可以跟大家交流:QQ;445847435

原文由 nameylf 发表:
液氮致冷和电子致冷都是针对探测器来说的，X光管的致冷一般的情况是：小功率时采用风冷就可以满足要求，大功率时一般采用油冷或水冷。
对于探测器的致冷来说，最主要的功能是降低半导体探测器和第一级场效应管的热噪声（也称为白噪声）。在较早时间，半导体探测器一般是采用Si（Li）半导体探测器，这种探测器只能用液氮来致冷；后来发展到更新的制造工艺，即Si-PIN型和SDD型，这两种探测器可以用液氮致冷，也可以用半导体致冷；也就是说，现在的半导体探测器的生产工艺（Si-PIN和SDD）能够保证在-40°C以下时，噪声水平就可以满足实际需要。液氮致冷的最大的问题是维护成本较高，因为液氮随时都在消耗中，不管你的仪器是否在使用；而且对于Si（Li）半导体探测器来说，一旦液氮没有了，对探测器的损害是无法逆转的，因此，维护风险较高。现在，半导体致冷技术已经非常成熟，并且已经得到广泛的应用。至于噪声水平的问题，半导体致冷的Si-PIN探测器和SDD探测器已经完全满足需要，没有必要在此问题做过多的追究。目前，日系的仪器大多都采用液氮致冷方式，欧美和国内的仪器大多采用半导体致冷方式，原因不得而知。但个人认为，无论从技术水平，还是从实际使用的效果来看，半导体致冷的探测器明显优于传统的液氮致冷方式。
另外，顺便纠正一下楼上的错误，液氮不是惰性气体，液氮指的是液化了的氮气。

原文由 nameylf 发表:
对于Si（Li）半导体探测器，液氮没有了，最直接的后果是分辨率变差，特别是没有液氮了还进行加电操作。