主题：【求助】有人能告诉我XRF中液氮冷却与电子冷却之间的区别和影响吗？

原文由 gutianhong 发表:
原先听热电人忽悠 感觉有点悬。而且热电的那款仪器定价偏高。

原文由 long_risun 发表:
液氮制冷和电子制冷是两种不同的方式，液氮制冷技术比较成熟，故障率低，经常要加液氮有点麻烦，但液氮是惰性气体并不会对人体产生伤害作用。液氮制冷可以达到-196C,而电子制冷只能达到-70C，检测器要在-80C以下才可以更好的工作，所以在电子制冷技术还不是很完善的现在，我们还是提倡用液氮制冷，某一天电子制冷技术成熟了，故障率低了，那是很好的事情，哈哈。。。
希望可以跟大家交流:QQ;445847435

原文由 nameylf 发表:
液氮致冷和电子致冷都是针对探测器来说的，X光管的致冷一般的情况是：小功率时采用风冷就可以满足要求，大功率时一般采用油冷或水冷。
对于探测器的致冷来说，最主要的功能是降低半导体探测器和第一级场效应管的热噪声（也称为白噪声）。在较早时间，半导体探测器一般是采用Si（Li）半导体探测器，这种探测器只能用液氮来致冷；后来发展到更新的制造工艺，即Si-PIN型和SDD型，这两种探测器可以用液氮致冷，也可以用半导体致冷；也就是说，现在的半导体探测器的生产工艺（Si-PIN和SDD）能够保证在-40°C以下时，噪声水平就可以满足实际需要。液氮致冷的最大的问题是维护成本较高，因为液氮随时都在消耗中，不管你的仪器是否在使用；而且对于Si（Li）半导体探测器来说，一旦液氮没有了，对探测器的损害是无法逆转的，因此，维护风险较高。现在，半导体致冷技术已经非常成熟，并且已经得到广泛的应用。至于噪声水平的问题，半导体致冷的Si-PIN探测器和SDD探测器已经完全满足需要，没有必要在此问题做过多的追究。目前，日系的仪器大多都采用液氮致冷方式，欧美和国内的仪器大多采用半导体致冷方式，原因不得而知。但个人认为，无论从技术水平，还是从实际使用的效果来看，半导体致冷的探测器明显优于传统的液氮致冷方式。
另外，顺便纠正一下楼上的错误，液氮不是惰性气体，液氮指的是液化了的氮气。

原文由 nameylf 发表:
对于Si（Li）半导体探测器，液氮没有了，最直接的后果是分辨率变差，特别是没有液氮了还进行加电操作。

原文由 rohsking 发表:

原文由 long_risun 发表:
液氮制冷和电子制冷是两种不同的方式，液氮制冷技术比较成熟，故障率低，经常要加液氮有点麻烦，但液氮是惰性气体并不会对人体产生伤害作用。液氮制冷可以达到-196C,而电子制冷只能达到-70C，检测器要在-80C以下才可以更好的工作，所以在电子制冷技术还不是很完善的现在，我们还是提倡用液氮制冷，某一天电子制冷技术成熟了，故障率低了，那是很好的事情，哈哈。。。
希望可以跟大家交流:QQ;445847435

请注意一下下面两个事实：

1.目前几乎所有品牌的XRF元素分析仪器最新机型采用的都是高纯Si检测器，其采用的全是电子制冷的方式，这从一个侧面说明了电子制冷技术已经全面成熟，并且已经是行业主流！

2.目前最专业的第三方检测机构SGS在中国地区采购的XRF元素仪器，精工SEA1000系列（电子制冷方式）的将近20台，岛津的2台（液氮制冷），从这个采购数据可以看出作为最专业的检测机构最信任的是电子制冷。

从以上两个事实我们可以得出一个结论：XRF元素分析仪器已经进入电子制冷的时代！！！！

欢迎大家随时和我交流 QQ 275850495

原文由 haha8421 发表:

原文由 nameylf 发表:
液氮致冷和电子致冷都是针对探测器来说的，X光管的致冷一般的情况是：小功率时采用风冷就可以满足要求，大功率时一般采用油冷或水冷。
对于探测器的致冷来说，最主要的功能是降低半导体探测器和第一级场效应管的热噪声（也称为白噪声）。在较早时间，半导体探测器一般是采用Si（Li）半导体探测器，这种探测器只能用液氮来致冷；后来发展到更新的制造工艺，即Si-PIN型和SDD型，这两种探测器可以用液氮致冷，也可以用半导体致冷；也就是说，现在的半导体探测器的生产工艺（Si-PIN和SDD）能够保证在-40°C以下时，噪声水平就可以满足实际需要。液氮致冷的最大的问题是维护成本较高，因为液氮随时都在消耗中，不管你的仪器是否在使用；而且对于Si（Li）半导体探测器来说，一旦液氮没有了，对探测器的损害是无法逆转的，因此，维护风险较高。现在，半导体致冷技术已经非常成熟，并且已经得到广泛的应用。至于噪声水平的问题，半导体致冷的Si-PIN探测器和SDD探测器已经完全满足需要，没有必要在此问题做过多的追究。目前，日系的仪器大多都采用液氮致冷方式，欧美和国内的仪器大多采用半导体致冷方式，原因不得而知。但个人认为，无论从技术水平，还是从实际使用的效果来看，半导体致冷的探测器明显优于传统的液氮致冷方式。
另外，顺便纠正一下楼上的错误，液氮不是惰性气体，液氮指的是液化了的氮气。

我且不论你是负责那个品牌XRF销售,但是有一点可以肯定,你对Si-Li检测器需要液氮冷却根本不懂,你对Si-Pin和SDD可能有些了解.相信你的技术水平,但是只限于某些你在行的项目而已.

原文由 haha8421 发表:

原文由 nameylf 发表:
对于Si（Li）半导体探测器，液氮没有了，最直接的后果是分辨率变差，特别是没有液氮了还进行加电操作。

可以明确跟您讲,如果Si(Li)检测器没有液氮,根本没办法工作又何来的分辨率差之说?其实如果长时间不工作的Si(Li)检测器,只要加入液氮,等他冷却下来自然就没事了,长时间不使用,需要关注的是X光管,而不是检测器.

原文由 haha8421 发表:

原文由 nameylf 发表:
液氮致冷和电子致冷都是针对探测器来说的，X光管的致冷一般的情况是：小功率时采用风冷就可以满足要求，大功率时一般采用油冷或水冷。
对于探测器的致冷来说，最主要的功能是降低半导体探测器和第一级场效应管的热噪声（也称为白噪声）。在较早时间，半导体探测器一般是采用Si（Li）半导体探测器，这种探测器只能用液氮来致冷；后来发展到更新的制造工艺，即Si-PIN型和SDD型，这两种探测器可以用液氮致冷，也可以用半导体致冷；也就是说，现在的半导体探测器的生产工艺（Si-PIN和SDD）能够保证在-40°C以下时，噪声水平就可以满足实际需要。液氮致冷的最大的问题是维护成本较高，因为液氮随时都在消耗中，不管你的仪器是否在使用；而且对于Si（Li）半导体探测器来说，一旦液氮没有了，对探测器的损害是无法逆转的，因此，维护风险较高。现在，半导体致冷技术已经非常成熟，并且已经得到广泛的应用。至于噪声水平的问题，半导体致冷的Si-PIN探测器和SDD探测器已经完全满足需要，没有必要在此问题做过多的追究。目前，日系的仪器大多都采用液氮致冷方式，欧美和国内的仪器大多采用半导体致冷方式，原因不得而知。但个人认为，无论从技术水平，还是从实际使用的效果来看，半导体致冷的探测器明显优于传统的液氮致冷方式。
另外，顺便纠正一下楼上的错误，液氮不是惰性气体，液氮指的是液化了的氮气。

我且不论你是负责那个品牌XRF销售,但是有一点可以肯定,你对Si-Li检测器需要液氮冷却根本不懂,你对Si-Pin和SDD可能有些了解.相信你的技术水平,但是只限于某些你在行的项目而已.