但全谱直读ICP-OES并不意味着这个技术已经走到了尽头.相反经过十年多的实际应用.发现了其不足依然存在。其不足主要表现在如下几个方面.改进也主要针对这几个方面进行:
第一.强光与弱光同时测量带来的问题。在ICP高温激发出来的众多谱线中.400~800nm范围的可见光的强度要远远大于紫外区的谱线.对这些谱线同时测量所带来的问题是检测器上有些象素点长时间强光照射而快速老化损坏.而紫外区的分析谱线却由于曝光不足而无法使用。从检出限来看.Li、Na、K、Rb、Cs用ICP-OES分析往往与火焰AAS相近甚至不如火焰AAS。而用ICP-OES分析Cl、Br得到的结果通常不能与其他成熟的分析方法较好吻合(如
离子色谱、X射线荧光或离子选择电极法)。不仅是 ICP-OES.测定实际样品时.
ICP-MS同样有这个问题。综合这些情况.采用的改进措施一般有两个.一个是购买只有紫外区分光系统的ICP-OES和一台火焰AAS.费用更为实惠.两台仪器都可以获得最佳的性能。二是在ICP-OES中采用两套分光系统和两个检测器.将可见光和紫外光分别进行处理.实现仪器的最优化。
第二.有用的信息与垃圾信息同时测量带来的问题。目前最好的改进方法是采用专门设计的检测器有选择性地读取待分析元素的信息.将上述这些垃圾信息过滤掉.从而使操作者在最短的时间内获得最需要的分析结果.并保护检测器.避开垃圾信息的照射而老化损坏。
第三.分光系统中三棱镜的分辨率不均匀带来的问题。这个问题在紫外区尤为明显.因为在可见光区的谱线很少.干扰也较少.对分辨率的要求也较小.而绝大部分元素的谱线都集中在200~400nm这个范围.目前最好的方法是在这一波长范围内采用中阶梯光栅和平面光栅两个光栅进行交叉色散.比中阶梯光栅加三棱镜有了显著的改善。