主题:【讨论】请问有谁知道AFM可以测量阻抗么?

浏览0 回复3 电梯直达
qifenjile
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请问有谁知道AFM是否可以测量材料表面的阻抗?有谁有其相关的资料,麻烦各位给看看。
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大陆
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理论上使用AFM是不可能测量本征表面阻抗的大小,因为两个关键问题:1、针尖和表面的contact总会产生难以预计甚至难以重复的阻抗;2、样品形貌,通常非但不是原子级平整,而且难以预计,形貌带来的寄生电容将严重干扰阻抗衬度理论的建模。其他还有接地和屏蔽的问题也值得探讨,不过,表面阻抗的近似测量甚至mapping的实现问题不大。但一定要清楚,这里的阻抗只是表观的阻抗,和本征阻抗差的很远。只能用作参考,不能用来作为说事的关键证据。要知道光是简单材料的阻抗分析目前在contact上仍然争议很大,何况是AFM的contact。
    国内浙大的章海军教授和中山大学丁喜冬做过一些勇敢的探索。
    这里给一份专利,从这个专利你可以看到基本测量原理的图像。详细的你可以用以上两个人去google或ei或isi去。

介电损耗扫描探针显微镜专利说明.pdf
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Last edit by handsomeland
qifenjile
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非常感谢楼上的回复!是不是可以说目前,要利用AFM测量纳米材料的阻抗,还很困难?
jwjy_jc
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不能,afm是通过原子的范得华力来测量的,如何能测阻抗
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