获得0积分，您同时完成了每日任务，有额外的积分奖励，请前往APP领取
立即前往
原文由 hitttr 发表:原文由 shilly 发表:
刚开始用CAFM,有好多问题不是很明白，请教一下大家，我用的DI的nano IV。
1）在进完针没有加任何偏压的时候，为什么电流像有时会有很大噪声信号出现，特别是当样品不是非常平整的地方。扫的是镀金表面。
这个不清楚，没有怎么遇到过。
2）像Au,HOPG这样导电性好的样品加多少偏压合适啊，加高了怕针尖损坏，低了又不出图像
可以先在单个点上做下I-V曲线，观察一下电流与偏压的关系，一般中间是线性区，两端是非线性区，在线性区选一个值就可以了。
3）在加偏压扫图的时候，基本上扫不完一幅图电流信号就不好了，电流像根本没法看，需要调整哪些参数合适啊
电流图像不好，原因有几个：
1.针尖镀层被在扫描过程中，由于与样品表面摩擦，收到磨损了。
此时可以加大设置点，加大针尖与样品之间的接触面积，但这样也很损针尖。
2.偏压太大了，导致背面镀层损坏。各种镀层的针尖抗电压能力不同。一般而言镀Au、Pt等的，电导率高，适合测量微小电流，但是不耐磨，抗电压能力也不行。W2C，TiN等电导率稍低，但耐磨性和抗电压能力都很强。
最好是加正偏压，此时针尖是低电位，不易被氧化。
谢谢啦～
我的社区
签到
赛默飞实验室产品焕新计划有奖调研！
【七月征文】不一YOUNG实验“猿”
报名开启：ICS2024第十三届光谱网络会议！
推荐收藏！盘点中药材及饮片检测解决方案
