主题：【求助】bbxrd和gixrd 的区别（X-Ray Diffraction中的术语）

bb，就是样品平放，光管和探测器联动的扫描模式，有点类似于晶面反射
gi就是掠入射（grazing incident xrd),用来做一些薄膜样品，固定光管和样品表面的入射角度（一般比较小，取决于样品的吸收），然后采用一个过滤器（通常为gobel镜）取衍射平行光路部分，可以对粗糙样品，表面不平整样品或者多层膜样品作分析，就是要光源的方向性要好，强度在进入接收器是也会有一部分减少
还有一种通常采用的方法是光源不动，测量的时候，样品旋转一定角度的同时，探测器以两倍的转速。好处是适用于转靶（比较笨重，光源位置不宜转动），能量会提高很多，缺点是样品台专转动，对于一些流动性的样品就不太好测，解决的办法就是把光源聚焦在一个很窄的线或者点上，把样品用一些对x射线不敏感的材料封装起来

光路基本原理都是一样，2theta的角度依然是衍射光偏离光源的角度

原文由 wonderer 发表:
bb，就是样品平放，光管和探测器联动的扫描模式，有点类似于晶面反射
gi就是掠入射（grazing incident xrd),用来做一些薄膜样品，固定光管和样品表面的入射角度（一般比较小，取决于样品的吸收），然后采用一个过滤器（通常为gobel镜）取衍射平行光路部分，可以对粗糙样品，表面不平整样品或者多层膜样品作分析，就是要光源的方向性要好，强度在进入接收器是也会有一部分减少
还有一种通常采用的方法是光源不动，测量的时候，样品旋转一定角度的同时，探测器以两倍的转速。好处是适用于转靶（比较笨重，光源位置不宜转动），能量会提高很多，缺点是样品台专转动，对于一些流动性的样品就不太好测，解决的办法就是把光源聚焦在一个很窄的线或者点上，把样品用一些对x射线不敏感的材料封装起来

光路基本原理都是一样，2theta的角度依然是衍射光偏离光源的角度

谢谢您的答复，对于您的答复表示衷心的感谢。
您说的bbXRD就是对普通的样品（比如粉末等）做XRD时使用的是吧？也就是说入射光与样品表面是垂直的对吧？再就是您说的“联动”是指入射光管和探测器转动相同的角度吗？那是不是θ-2θ扫描也能完成这个扫描任务呢？
另外BB的英文全称是什么？能否麻烦您在方便的时候相告？

另外，对于GIXRD，您说的固定入射光和样品表面的角度不变（很小，一般是1度是吧？），那在从10度到80度扫描的过程中是什么在变动才能完成这个扫描过程呢？再就是，为什么在做薄膜样品是要采用这个GIXRD呢？有什麽优点吗？

再次，您说的最后一种方法，是θ-2θ扫描吗？那在这个过程中是不是入射光和样品表面的夹角是在不断变化的呀？请问这种方法是GIXRD吗？适用于测薄膜样品吗？


希望您能不吝赐教，对于XRD我很是糊涂，问做XRD的老师，他也是刚接手，很多也是不明白，本来我就糊涂，经他一解释我更糊涂了。
还希望您能在您方便的时候给予答复，衷心感谢。

自己顶顶吧，

望知道的朋友们能不吝赐教啊

Bragg-Brentano (BB) geometry，反射式，通常的粉末和固体样品采用这种方法，光源和探测器在样品同侧，一种是样品平放，光管和探测器与样品夹角theta同时动，一种是光源不同，样品转theta角，探测器以两倍速度同时转，原理一样，探测器接收到的都是与光源偏离2theta角度处的衍射强度，


 
The penetration depth of x-rays is often found in the 10 .. 100 µm range. In most thin film investigations the thickness is substantially lower causing a large fraction of the diffractogram as measured in the symmetric θ/2θ configuration to stem from the substrate. Especially for the analysis of thin films x-ray diffraction techniques have been developed for which the primary beam enters the sample under very small angles of incidence. In its simplest variant this configuration is denoted by GIXRD that stands for grazing incidence x-ray diffraction. The small entrance angle causes the path traveled by the x-rays to significantly increase and the structural information contained in the diffractogram to stem primarily from the thin film.



入射的角度，视样品的厚度和材料线吸收系数，控制不同的入射角度可以探测不同的样品深度的信息，探测器旋转测量2theta角衍射信息，
采用反射式x光打入样品比较深，举例来说，铜靶x光源钢铁穿透深度是10um,薄膜的信号探测不到，掠入射的优点也在于克服了这个挑战，x光贴着样品打进去，入射角越小，x能探测到的越接近表面信号



xrd
gixrd

非常感谢Wonderer的无私帮助！让我明了了心中的困惑！

顺便学习一下。

学习了

多谢耐心解答

谢谢，有用的

学习了非常感谢@@1