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原文由 halerok 发表:原文由 zemb 发表:主要取决于样品产生二次电子的多少,与加速电压、探针电流、样品倾斜、形貌都有关系,当然工作距离、探测器收集极电压及对二次电子的遮挡等这些影响二次电子收集的因素也有关。以上条件一定,平整样品表面的黑白对比说明什么呢?有杂质存在?球体颗粒(特别是导电性差的样品)的黑白对比主要是景深的问题吗?这些是否都属于SEM原理“反差”方面的问题?由SEM图片分析获得有限信息的经验太少了,大侠有何高见?
原文由 zemb 发表:主要取决于样品产生二次电子的多少,与加速电压、探针电流、样品倾斜、形貌都有关系,当然工作距离、探测器收集极电压及对二次电子的遮挡等这些影响二次电子收集的因素也有关。
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