高场仪器对化学位移分辨率提高了,但是对耦合常数分辨率下降了。
这句话或许是关键, 但有待推敲. 看如何定义耦合常数分辨率.
高场谱仪在分辩率上表现得比较好, 主要是它的半峰宽较窄 (由低场的三角峰变成高场的棍棒状峰), 因此发生重叠的机会较小.
对于某一化合物的信号峰, 其峰值的 "中心化学位移" 是固定的, 耦合常数也是固定的物理常数.
对于高场谱仪, 耦合常数为某 Hz 的裂分峰, 裂分间的化学位移的确变得比较窄. 因为 (谱仪兆数) x (裂分化学位移) = (固定耦合常数频率 Hz). 所以: 谱仪兆数增加, 裂分间的化学位移变小, 夸张的话可能太近产生重叠. 就看其半峰宽的窄度是否足够弥补(部分)重叠现象.
类似的例子如转速 20 Hz 出现旋转边带的情况, 在 200, 300, 400, 500, 600 兆谱仪出现的位置分别是正负 0.1, 0.066, 0.05, 0.04, 0.033 ppm, 距离相近了些. (公式范例: 200 兆 x 0.1 ppm = 20 Hz; 600 兆 x 0.033 ppm = 20 Hz)