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主题：【求助】用能谱可以定量样品表层的元素么？

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daxu
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发表于：2008/08/05 10:37:58 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
想做一下样品颗粒表层的元素摩尔比，不知道用能谱可以不？
该帖子作者被版主 feixiong5134加 2积分， 2经验，加分理由：鼓励发贴
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2008/8/5 14:39:32 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
不知道元素是什么！
如果含量高点的话应该是可以的
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daxu
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2008/8/5 21:28:25 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
元素是K、Si、Al、O，含量比较高，
在TEM版块问过，想能EDS定量分析，但制样可能比较困难。我的原意是用TEM看到颗粒外表那层薄薄的层后，测定那层薄层的元素量，然后再和基体的做比较。如果用XPS的话，测出的元素量代表颗粒多深厚度的？请各位指教！谢谢
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2008/8/6 19:17:46 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 daxu 发表:
元素是K、Si、Al、O，含量比较高，
在TEM版块问过，想能EDS定量分析，但制样可能比较困难。我的原意是用TEM看到颗粒外表那层薄薄的层后，测定那层薄层的元素量，然后再和基体的做比较。如果用XPS的话，测出的元素量代表颗粒多深厚度的？请各位指教！谢谢


EDS是体相分析
XPS是表面分析
取样深度5nm左右
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daxu
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2008/8/7 12:17:10 地毯 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
谢谢版主的回答
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feixiong5134
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2008/8/8 8:51:54 地板 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
不用客气
欢迎以后经常来
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