主题：【你问我答】（八）AAS分析中光谱干扰有哪几种类型？

1. 干扰物与分析物之谱线重叠
2. 分析物谱线包含于干扰分子宽谱线中

解決方法 :
1. 减少狭缝宽度
2. 应用其他的光谱线
3. 采用化学分离

光谱干扰是指在所选用的光谱通带内,除了分析元素所吸收的辐射之外,还有来自光源或原子化器的某些不需要的辐射同时被检测器所检测而引起的干扰.
    光谱干扰有以下几种类型:光谱线的重叠干扰、多重吸收线的干扰和光谱通带内存在光源发射的非吸收线的干扰。

基本上就是三个干扰：
1.波长之间的干扰；
2.样品中其他元素的干扰；
3.背景的干扰。
处理方法，不太清楚，大致有：
调换合理的波长进行分析；
加大或者减小狭缝宽度；
增大燃气流量，以增大信号强度；
优化测试环境，水样最好要超纯水。

光谱干扰主要来自吸收线重叠干扰，以及在光谱通带多于一条吸收线和在光谱通带内存在光源发射的非吸收线等。
1. 在测定波长附近有单色器不能分离的待测元素的邻近线。
2. 灯内有单色器不能分离的非待测元素的辐射。
3. 待测元素分析线可能与共存元素吸收线十分接近。

光谱干扰：待测元素的发射或者吸收的光谱与干扰物的发射光谱不能完全分离所引起的，这个干扰主要来做光源和原子化装置，有时也与共存元素有关，常见的光谱干扰有：
1、在待测元素特征谱线附近有单色器不能分离的待测元素的邻近线所产生的干扰。可以用减小狭缝的办法来减小这种干扰。
2、元素灯内有单色器不能分离的发射线所产生的干扰。可以用高纯度单元素来尽量回避这种干扰。
3、元素灯的辐射中有连续背景辐射所产生的干扰。这可用较小的光谱通带来减小。
4、待测元素线与其他元素线接近，产生谱线部分或者完全重叠所产生的干扰。这种可以换谱线来尽量降低干扰。
5、火焰温度不够，原子化效率不高，产生分子吸收。可以提高火焰温度来减小。
6、被测试样品中的杂质物质的原子、分子和离子产生的光谱吸收所产生的干扰，这就是基体干扰的主要来源。可以采用基体匹配来降低干扰。
7、样品中的分子、原子和离子产生光的散射等引起的光谱干扰。

ICP-AES法基体效应，可以应用内标来解决例如雾化室效应、试样与标准溶液之间粘度差异所带来的基体效应；背景较高可以采用离线背景校正，应用动态背景校正对提高准确度也是很有效的。ICP-AES法最大的干扰是谱线干扰，其光谱线数量很大而且谱线干扰也较难解决。有记载的ICP-AES谱线有50000多条，元素间的谱线干扰及基体的谱线干扰也就很严重。因此，对某些样品例如钢铁、冶金产品的分析必须使用高分辩率的ICP-AES仪器，尽量把可能干扰的谱线分开。各种分子粒子（如OH）的谱峰或谱带对某些低含量的被测元素也带来干扰，影响其样品分析中的实际检出限。因此使用CCD阵列检测器的仪器，以便准确快速地得到待测谱线及相邻背景信息，并对分析谱线和背景进行同步测量，可实现离峰法测量而避开谱线干扰，或采用MSF法或IEC法扣除干扰。选择每个元素的适宜分析条件或加入电离缓衡剂（如过量的I族元素）可以减少易电离元素的影响。

综上所述，可以认为：在日常工作中ICP-AES分析技术是最成熟的，可由技术不熟练的人员应用ICP-AES技术人员制定的分析方法来进行工作。在常规工作中，ICP-AES可分析10%TDS的溶液，甚至可以高至30%的盐溶液。ICP-AES具有106以上的线性范围LDR且抗盐份能力强，可同时进行痕量及主量元素的测定，ICP-AES可同时直接测定0.001～60%的浓度含量。ICP-AES的短期精密度可以达到0.3～0.5%RSD，几个小时的长期精密度已可达到～1%RSD。因此，ICP-AES外加ICP-MS，或GF-AAS便可很好地满足实验室的分析需要。对于每个样品分析5～20个元素，含量在亚ppm至%，使用ICP-AES是最合适的。ICP-AES和GF-AAS由于现代化的自动化设计以及使用惰性气体的安全性，可以整夜无人看管工作。因此，ICP仪器必将成为冶金分析实验室的基本配置，其分析技术在冶金分析中发挥越来越重要的作用。

光谱干扰，重叠干扰。
  消除干扰：
          1.如果被测元素的灵敏线有干扰时。另选次灵敏线作为分析线。
          2.预先将干扰元素分离。
          3.利用自吸收效应或塞曼效应扣除背景。
    多重吸收干扰：如果在光谱通带内光源产生一条以上的发射线且都能参与吸收，则不论多重发射线是吸收线还是非吸收线，都会是测得的吸光度发生变化，给分析带来干扰。
    多重吸收的消除：
    1.可采用减少光谱通带宽，使通带变小到足以充分挡掉不需要的多重线。
    2.严格检查空心阴极灯，不使用不合格的空心阴极灯。
    3.如果减小通带宽度仍不能消除干扰，可另选分析线，这种方法虽然灵敏度有所降低，但可用较宽的通带，提高所检测的光能量。

    非吸收线的干扰：
          由于分析用的谱线与原子吸收无关的相邻的而非吸收线不能完全分开所致。这种干扰会降低灵敏度。

光谱干扰。它是由于光源、样品或仪器使某些不需要的辐射光被检测器测量所引起的。它能使灵敏度降低，工作曲线弯曲，也会引起测定结果偏高等。一般采用较窄的光谱通带、提高光源的发射强度、选择其他的分析线，预先分离干扰物等方法去消除。

1.由光源引起的主要有：a，元素灯内有单色器不能分离的发射线产生，可以采取高强度单元素灯等来避免产生；b，元素灯的辐射有连续背景辐射，可以采用较窄的光谱通带来减小干扰的影响

2.由仪器引起可能为火焰温度不高，原子化效率不高，引起分子吸收，可以提高火焰温度

3.由样品引起的主要有：a，样品中的杂质的分子、原子和离子产生的光谱吸收的干扰，可以采用基体改进来降低干扰，若可以预先分离干扰物的话，可以采用预先分离干扰物的方法消除

4.另外，待测元素线与其他元素线接近，如Pb283和Sn283的线，可以采取换谱线采用其他分析线来降低干扰。