主题：【求助】XRD掠入射衍射分析薄膜表面的结构

原文由 wonderer 发表:
看到这个贴这么久了，来讨论一下，就我看来这种材料的表征不外乎电镜和xrd，TEM主要解决样品制备的问题，然后关于样品的取向，不知道你说的这种镶嵌结构中各项是否为单晶状态，如果是的话，我会先对面外取向进行表征，就是所谓的omega-rocking，看看平行与样品表面的晶面情况。如果要考察晶体关于垂直与matrix表面的取向关系，比方说zn单晶柱生长在zno单晶的母体上，而且位置处在靠近表面的一层，或者说晶柱以纳米尺寸存在的话，就可以采用你说的那种光路，好处就是照射面积大，深度可以控制，而且光路近似贴着样品面入射，考察面内取向，测试的时候通过样品环绕法线转动同时记录衍射信号，得到特定衍射面的pol-figure，比较两种晶体pofigure图取向角度的关系就可以得到该晶体相对于母体的实际取向，据刚才的例子来说，假如两种晶体z轴重合，都是ool生长，那么通过rocking应该看到各自的00l面，然后考察110或者100面极图就能得到相互之间以z为方向旋转的角度了。

原文由 physicshhl 发表:

原文由 wonderer 发表:
看到这个贴这么久了，来讨论一下，就我看来这种材料的表征不外乎电镜和xrd，TEM主要解决样品制备的问题，然后关于样品的取向，不知道你说的这种镶嵌结构中各项是否为单晶状态，如果是的话，我会先对面外取向进行表征，就是所谓的omega-rocking，看看平行与样品表面的晶面情况。如果要考察晶体关于垂直与matrix表面的取向关系，比方说zn单晶柱生长在zno单晶的母体上，而且位置处在靠近表面的一层，或者说晶柱以纳米尺寸存在的话，就可以采用你说的那种光路，好处就是照射面积大，深度可以控制，而且光路近似贴着样品面入射，考察面内取向，测试的时候通过样品环绕法线转动同时记录衍射信号，得到特定衍射面的pol-figure，比较两种晶体pofigure图取向角度的关系就可以得到该晶体相对于母体的实际取向，据刚才的例子来说，假如两种晶体z轴重合，都是ool生长，那么通过rocking应该看到各自的00l面，然后考察110或者100面极图就能得到相互之间以z为方向旋转的角度了。

假如样品为异质外延生长的薄膜，两相都是（赝）立方结构，用复合靶在（001）单晶衬底上用PLD制备。
首先用theta-2 theta扫描及phi扫描表征其外延生长情况，可以确定两相均沿（001）方向生长良好。现在想在做电镜观察之前用XRD初步确认存在1-3型的结构，即一相柱状结构贯穿整个薄膜，镶嵌在另一相的母体中。这只是一设想，暂时还没有做到这一步。
我认为可以用掠入射方法得到不同深度的面内衍射强度分布，对比各分布图，应该可以初步确定1-3型结构的存在。
至于极图的方法，不是很了解，有点感觉好像是phi扫描。。。

原文由 handsomeland 发表:
个人觉得xrd用来做为1-3微结构的证据是个不可取的方法。因为XRD给出的信息一般是扫描光斑内的平均结构信息，平均效应很难反映微结构，至少难以区分1-3,3-3。
用截面透射电镜成像加原位打衍射是否更可取？