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ID：haikou95
行业：其他
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原文由 wildonkey 发表:用x射线荧光最合适，它不要求导电，而且精度高，低含量成分可到PPM级，非一般的sem上的EDS可比。已知广州和成都有，北京上海应该也有。 把样品反过来，没镀膜面向上，即可消除镀膜的影响。
ID：golf
原文由 haikou95 发表:补充一句，但要看轻元素可能不行，现在的XRF好像都是从Na开始的
原文由 golf 发表:原文由 haikou95 发表:补充一句，但要看轻元素可能不行，现在的XRF好像都是从Na开始的谁说的, 大功率的波长色散XRF从Be开始都可以的. 你说的是低功率的能量色散XRF. 但XRF是做宏观的平均成份的, 和SEM微区分析是互补的, 不能相互替代.
ID：blueskydw
原文由 haikou95 发表:原文由 golf 发表:原文由 haikou95 发表:补充一句，但要看轻元素可能不行，现在的XRF好像都是从Na开始的谁说的, 大功率的波长色散XRF从Be开始都可以的. 你说的是低功率的能量色散XRF. 但XRF是做宏观的平均成份的, 和SEM微区分析是互补的, 不能相互替代.拜托看清楚再说，是非破坏性测量
ID：huangtao0307
原文由 blueskydw 发表: EDX 不要切片抛光吗 一切片标本不就毁了还是直接在扫描电镜下成分呢请请求帮助
原文由 haikou95 发表:是啊，用EDXRF，不用对样品表面处理，直接观察就好了。但就是元素范围是从Na开始，另外看不了微小的区域。现在EDXRF能放大的倍数大概是100倍左右，和电镜不能比。如果在北京，可以和几家大的博物馆联系一下，他们的设备应该能符合LZ的要求。
ID：sshlxf
原文由 sshlxf 发表:这么小啊 用电镜看更X荧光对样品的量要求比较大的.
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