主题:【讨论】TEM 样品熔化了

浏览0 回复21 电梯直达
icewine2000
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icewine2000
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给大家报告一些我的观察,铝样品熔化只发生在JOEL的TEM里(2100,2010),即使最小spot也会发生熔化。而在FEI的TEM里(CM200/300,Tecnai,Titan)就从来没有发生过。
我猜测可能的原因有两个:一是可能是因为LaB6;二是或者JOEL的电子束流控制可能瞬间不稳定。不知道有没有人有类似的经历?
蓝莓口香糖
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不太可能是束流不稳。LaB6还是相当稳定的。如果你想做个比较,要注意使用的各种参数,包括光阑大小。
tygk98
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凝静一夏
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wshsun
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tygk98
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原文由 icewine2000 发表:
原文由 drizzlemiao 发表:
如果真的是熔化,那就是热量问题。如果束流密度不变,降压未必有效,甚至会更糟糕。

我也曾经这么想,但是为什么有时候熔化有时候又没有呢?有没有办法预测?


超薄区和有机物比较容易熔化。
steelboy
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wekow
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在Transmission Electron Microscopy: A textbook for Materials science里面 提到,提高电镜电压可以减轻热损伤。 降压应该不行
refe971
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Al是金属导热性很好,我想不会是电子束加热的原因,AL的displacement threshold energy of incident e-beam是180 keV。是不是AL被电子束打光了。
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