各位战友好!
我的专业是医疗领域,因专业原因对分析化学领域知识知之甚少。现因实验需要,特别向各位请教以下问题:
一、实验大致说明:我需要测定的样品是树脂样品(resin cement),可以形成薄膜。需要测定的内容是树脂样品中的C=C含量;
因为需要跟踪同一树脂样品在不同时刻的C=C含量,所查文献中提到了如图所示的实验方法。如图所示,瓷与晶体界面的夹层为树脂区。以入射光线透过瓷显然不太现实,所以原文作者利用了衰减全反射原理设计了该实验。
二、我想知道的是:
(一)C=C的峰具体在什么波长(波数范围体现),如何才能正确读取?
(二)如果要测量,应该选择近红外还是中红外区测量?
(三)如今联系到的实验室,并无ATR衰减全反射配件,计划自己选配与图示中相同的配件,或者希望能联系到在西安地区可以提供这种仪器与配件的实验室。希望各位战友可提供该方面的信息援助;
(四)除了红外衰减全反射法,还有什么方法可以跟踪测量C=C?
最近又遇到了新的困惑,有可能要更换实验方法了。希望各位高手前往此帖给以回答,望不吝赐教!
http://www.instrument.com.cn/bbs/shtml/20090507/1876896/