主题：【已应助】求助9篇中英文论文－非常感谢（已全部应助）

【序号】：1
【作者】：Takatoshi Tsujimura
【题名】： Molybdenum/pure aluminum gate bus line defect reduction for high-resolution thin film transistor liquid crystal displays
【期刊】：J. Vac. Sci. Technol. B
【年、卷、期】：J. Vac. Sci. Technol. B Volume 21, Issue 6, pp. 2576-2583 (November 2003)
【全文链接】：


【序号】：2
【作者】：M.C. Wanga, T.C. Changb,  P.T. Liuc, Y.Y. Lid, F.S. Huangd, Y.J. Meie and J.R. Chena
【题名】：Source–drain barrier height engineering for suppressing the a-Si:H TFTs photo leakage current 
【期刊】：
【年、卷、期】： 4 July 2007.
【全文链接】：



【序号】：3
【作者】：董杰(Jie Dong);金相起(Sang-Kee Kim);朴范求(Beum-Ku Park);金浩熙(Ho-Hui Kim)
【题名】：Via Hole Reduction for a-Si TFT LCD
【期刊】：液晶与显示
【年、卷、期】：23卷6期 (2008/12)
【全文链接】：

【序号】：4
【作者】：李云飞(Yun-Fei Li);王永生(Yong-Sheng Wang);张晓龙(Xiao-Long Zhang);刘宏宇(Hong-Yu Liu);王刚(Gang Wang);邵喜斌(Xi-Bin Shao);何大伟(Da-Wei He)
【题名】：a-Si:H TFT OLED驱动电路中存储电容对显示性能的影响
【期刊】：液晶与显示
【年、卷、期】：23卷5期(2008/10)
【全文链接】：

【序号】：5
【作者】：王丹(Dan Wang);梁晓(Xiao Liang);唐洪(Hong Tang)
【题名】： TFT-LCD液晶材料对显示残像的影响
【期刊】：液晶与显示
【年、卷、期】：23卷4期(2008/08)
【全文链接】：

【序号】：6
【作者】：郭建(Jian Guo);金基用(Ki-Yong Kim);林承武(Seung-Moo Rim);明星(Xing Ming);周伟峰(Wei-Feng Zhou);李斗熙(Doo-Hee Lee)
【题名】：Analysis and Experiment Result of Diffraction and Interference Phenomenon in Halftone Mask Fine Pattern Forming Process
【期刊】：液晶与显示
【年、卷、期】：23卷3期(2008/06)
【全文链接】：

【序号】：7
【作者】：杨澍(Shu Yang);荆海(Hai Jing);廖燕平(Yan-Ping Liao);马仙梅(Xian-Mei Ma);孔祥建(Xian-Jian Kong);黄霞(Xia Huang);付国柱(Guo-Zhu Fu);马凯(Kai Ma)
【题名】：驱动电子墨水电子纸的柔性TFT背板制造技术
【期刊】：液晶与显示
【年、卷、期】：22卷2期(2007/04)
【全文链接】：

【序号】：8
【作者】：金奉柱(Bong-Joo Kim);崔瑩石(Hyung-Suk Choi);劉聖烈(Seong-Yeol Yoo);張炳鉉(Byeong-Hyeon Jang);柳在一(Jai-Il Ryu);李禹奉(Woo-Bong Lee);李貞烈(Jung-Yeal Lee);Won-Sok Kim
【题名】：Development of High Aperture Ratio TFT-LCD by CF4 Plasma
【期刊】：液晶与显示
【年、卷、期】：21卷5期(2006/10)
【全文链接】：

【序号】：9
【作者】：宋泳锡(Young-Suk Song);劉聖烈(Seong-Yeol Yoo);柳在一(Jai-Il Ryu);张炳鉉(Byeong-Hyeon Jang);李禹奉(Woo-Bong Lee);李貞烈(Jung-Yeal Lee)
【题名】：Improvement of Photo Process for Fine Pattern Via Hole Image
【期刊】：液晶与显示
【年、卷、期】：21卷5期(2006/10)
【全文链接】：