【求助】熔融制样荧光分析对烧失量如何校正？

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2010/6/1 21:52:15 11楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

使用基体校正，德扬公式可以将某一项不测的成分做为消去项消去，比如LOI。熔融后因为烧失量不同引起的稀释比和浓度差异，可以使用基体校正。

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2010/6/1 21:54:05 12楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

内标法只是补偿基体效应的方法，德扬公式是用数学公式进行基体校正。

该帖子作者被版主 juway加 2积分， 2经验，加分理由：那德扬公式是什么呢？

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Onway

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2010/6/1 21:58:46 13楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 ljzllj(ljzllj) 发表:
内标法只是补偿基体效应的方法，德扬公式是用数学公式进行基体校正。

最好能单独开主题讲一讲，以便大家讨论！

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2010/6/1 22:22:20 14楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

软件里都有基体校正的方法，因软件不同而使用不同。如果只是理论公式的话，几乎所有的书上都有这些公式。

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ayaku

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2010/6/7 0:24:46 15楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 ljzllj(ljzllj) 发表:
使用基体校正，德扬公式可以将某一项不测的成分做为消去项消去，比如LOI。熔融后因为烧失量不同引起的稀释比和浓度差异，可以使用基体校正

荧光软件中的确带有校正软件，实际操作中需要选择基体元素（其它已知的分析元素）对分析元素进行校正，计算其影响系数。但专家提到了选择不测成分消去，怎么选择？当然不同厂家荧光操作软件不一致，可能会有很大不同。（偶是使用岛津２４００）

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