主题:【求助】请教一下关于SEM的问题

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nakeking
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请教一下关于SEM的问题。最近投了一篇文章,在文章中我给出了所做颗粒的SEM照片,审稿人提了这样一个问题:Were backscattered or secondary ion images obtained?
不知道backscattered or secondary ion images能提供什么信息?在SEM上可以做么?
请大家帮忙解答一下啊,谢谢!
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golf
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就是问你有没有拍背散射电子图像或者二次离子图像?
不好意思,我不太理解二次离子的意思,只听说过二次电子。不会是笔误吧。呵呵。期待高手指点。

原文由 nakeking 发表:
请教一下关于SEM的问题。最近投了一篇文章,在文章中我给出了所做颗粒的SEM照片,审稿人提了这样一个问题:Were backscattered or secondary ion images obtained?
不知道backscattered or secondary ion images能提供什么信息?在SEM上可以做么?
请大家帮忙解答一下啊,谢谢!
jeolzxj
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二次电子和背散射电子都是同时产生的,选择不同的探头就可得到不同的图像。二次离子是在低真空和环扫上有这个概念,它是由二次电子与气体作用而产生的,由它就可获得在低真空和环扫模式的图像。
anihaseyo
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确实没听过二次离子像,不知是不是笔误还是我孤陋寡闻。
不过可以告诉你的是,背散射电子像主要是看样品成分分布的,二次电子像主要反映样品表面面貌,背散射电子要比二次电子打入的深一些。
insulater
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原文由 anihaseyo 发表:
确实没听过二次离子像,不知是不是笔误还是我孤陋寡闻。
不过可以告诉你的是,背散射电子像主要是看样品成分分布的,二次电子像主要反映样品表面面貌,背散射电子要比二次电子打入的深一些。


最后一句话说的有问题
好好看看资料
ceisar
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secondary ion是二次离子,常用于SIMS(离子探针),
backscattered不知是背散射电子,还是EBSD(背散射电子衍射)呢,如果是前者,只要有BEI探头就可以在SEM上观察!



原文由 nakeking 发表:
请教一下关于SEM的问题。最近投了一篇文章,在文章中我给出了所做颗粒的SEM照片,审稿人提了这样一个问题:Were backscattered or secondary ion images obtained?
不知道backscattered or secondary ion images能提供什么信息?在SEM上可以做么?
请大家帮忙解答一下啊,谢谢!
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