所谓的校准,一般都是指,校准SPM的扫描器。
由于扫描器的老化,漂移和环境温度对扫描器的影响,
是的扫描器在使用一段时间之后,其测量值与实际值存在一定偏差,
当这个偏差达到试验所不能容忍的程度时,就需要对扫描器进行校准。
对不同的厂家,不同型号的仪器而言,其具体的校准的方法千差万别。
但是过程几乎都是一样的。
即用SPM扫描已知尺寸的标准样品,然后对扫描的图像进行测量,
比较测量值与实际值之间的差异,
然后根据这个差异来调整扫描器的校正参数。
我们所使用的都是XYZ三向扫描器,对每一个轴都需要单独校正。
使用最多的校正样品就是标准光栅。
光栅的种类和型号很多,你可以自己上网查一下,然后向厂家咨询一下,
他们会根据你的校正需要为你选择合适型号的光栅。
STM用的校正光栅相对而已比较少。你可以用AFM模式来做校正。
因为不管是什么模式,校正的都是扫描器,与操作模式无关。
关于SPM校正周期,确切的时间,这个不大好说,
有的说3个月,有的说半年。
但是不管多长具体的时间是多少,这里有个基本的原则。
就是系统的误差水平是否是在试验所允许的范围内。
这个你可以用标准光栅来校验。
原文由 mse2008 发表:
请教大家:
一般怎样校准自己的AFM 呢?要校准哪些方面呢?
采用什么样品?多大尺寸?
校准的时候应该注意哪些问题?
多久校准一次合适?
校准中和校准后应给出什么指标和参数?
对STM,又采用什么样品来校准?
谢谢!