A B PMN-PT光电晶体的原子力显微镜(AFM)形貌像(A)及对应的扫描探针声学像(B) 声学像显示铁电畴结构信息 A B LiNbO3 人工晶体电畴结构的压电响应像(PFM)(A)和对应的SPAM像(B) PFM： 国际公认的用于观察电畴结构的一种方法 SPAM： 得到了与PFM相同的结果 A B LaSrMnO/LAO薄膜的的AFM形貌像(A)和对应的SPAM声学像(B) SPAM声学像清楚地显示了不同尺寸不同高度的晶粒分布 A B 非晶碳膜的AFM形貌像(A)和对应的SPAM声学像(B) (薄膜厚度100nm, 衬底是硅) SPAM像显示了“薄膜－衬底”界面处的缺陷 A B Bi4Ti2.985W0.015O12 电子陶瓷的AFM形貌像(A)和SPAM声学像(B)，SPAM声学像清楚地显示了晶粒、晶界、杂质集聚 A B Bi0.5(NaxK1-x)0.5）TiO3 电子陶瓷的AFM形貌像(A)和SPAM声学像(B) SPAM声学像显示了电畴结构信息
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