主题:【讨论】有关方法检出限,不知道这样对不对...

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nps
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用的安捷伦7500cs,最近需要做一些元素的方法检出限,我们在数据的采集处理上采用了一下方法:
    1、与样品同时做方法空白,上机采集数据,将数据采集次数由平常的3次增加为12至15次,空白零点做完后,加入一定浓度的标液,再次采集。
    2、在软件中,将数据处理模式设为外标法模式,然后加载空白零点和加标点的数据文件,可以直接得到该方法空白的加标曲线、DL和BEC。

不知道用这样的方法来直接确定方法检出限(DL)是否妥当?
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这个还是仪器的检出限,不是方法的检出限。


能具体说说吗?
hujiangtao
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原文由 yzyxq 发表:
这个还是仪器的检出限,不是方法的检出限。

这个就是方法检出限吧
yzyxq
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原文由 yzyxq 发表:
这个还是仪器的检出限,不是方法的检出限。


能具体说说吗?

可能你的具体过程没有说清楚。做样品空白做几个?不是在仪器上测量几次。

如果做几个和样品处理过程一样的样品空白,上机测量,那是方法的检出限。
做一个样品空白在仪器上测几次,那就不是方法的检出限。
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