主题：【讨论】荧光和分析数据对比来调整曲线正确吗？

原文由 xiechangwei 发表:
我们公司现在每天都做荧光和分析的对比，当荧光和分析数据对比差别大时，就会要求我们对分析曲线进行调整。
  其实我觉得本来分析的数据就不是很稳定，如果光凭一个数据就要调整曲线，会不会影响到日常测样。我们现在有两台分析仪，如果两台仪器数据相同，是不是要多做一次分析来看下哪个是正确的啊？大家讨论下哈。

原文由 alexright 发表:

原文由 xiechangwei 发表:
我们公司现在每天都做荧光和分析的对比，当荧光和分析数据对比差别大时，就会要求我们对分析曲线进行调整。
  其实我觉得本来分析的数据就不是很稳定，如果光凭一个数据就要调整曲线，会不会影响到日常测样。我们现在有两台分析仪，如果两台仪器数据相同，是不是要多做一次分析来看下哪个是正确的啊？大家讨论下哈。

分析什么样品？
荧光分析精密度很高，要调整曲线的话，仅仅一个样品的比对是不可取的。
最好使用不同方法进行验证。

原文由 ljzllj 发表:
1、不知道你们是怎么调整的，调整其中某几点？还是平移整条曲线？
2、这个问题没什么可讨论性。如果仅仅根据某一个或几个点就去调整曲线，肯定是不对的，即使你的结果可能会好。如果是平移整条曲线还可以接受。
3、分析结果不好，应该去找找不好的原因，比如制样过程，压片法还应考虑均匀性、颗粒度、矿物效应和化学分析值的准确性等等。而不是去修改结果。
4、XRF对制样的要求挺高，而且要求“相似标样”，但是经常会被分析者忽视。通常都是简单压个片，然后得出结论：XRF只是定性或半定量分析。这样太武断了。XRF方法已经相当成熟了。XRF分析轻基体（油、聚合物等）的样品，检出限和准确度一样可以达到1ppm或者更低；分析重基体（钢铁、合金等），检出限和准确度也可以达到10ppm。
因此，如果分析几十ppm以上的样品，结果不好，应该找找其他原因，而不应该把责任都推给XRF。

原文由 ljzllj 发表:
1、不知道你们是怎么调整的，调整其中某几点？还是平移整条曲线？
2、这个问题没什么可讨论性。如果仅仅根据某一个或几个点就去调整曲线，肯定是不对的，即使你的结果可能会好。如果是平移整条曲线还可以接受。
3、分析结果不好，应该去找找不好的原因，比如制样过程，压片法还应考虑均匀性、颗粒度、矿物效应和化学分析值的准确性等等。而不是去修改结果。
4、XRF对制样的要求挺高，而且要求“相似标样”，但是经常会被分析者忽视。通常都是简单压个片，然后得出结论：XRF只是定性或半定量分析。这样太武断了。XRF方法已经相当成熟了。XRF分析轻基体（油、聚合物等）的样品，检出限和准确度一样可以达到1ppm或者更低；分析重基体（钢铁、合金等），检出限和准确度也可以达到10ppm。
因此，如果分析几十ppm以上的样品，结果不好，应该找找其他原因，而不应该把责任都推给XRF。

原文由 xiechangwei 发表:

原文由 ljzllj 发表:
1、不知道你们是怎么调整的，调整其中某几点？还是平移整条曲线？
2、这个问题没什么可讨论性。如果仅仅根据某一个或几个点就去调整曲线，肯定是不对的，即使你的结果可能会好。如果是平移整条曲线还可以接受。
3、分析结果不好，应该去找找不好的原因，比如制样过程，压片法还应考虑均匀性、颗粒度、矿物效应和化学分析值的准确性等等。而不是去修改结果。
4、XRF对制样的要求挺高，而且要求“相似标样”，但是经常会被分析者忽视。通常都是简单压个片，然后得出结论：XRF只是定性或半定量分析。这样太武断了。XRF方法已经相当成熟了。XRF分析轻基体（油、聚合物等）的样品，检出限和准确度一样可以达到1ppm或者更低；分析重基体（钢铁、合金等），检出限和准确度也可以达到10ppm。
因此，如果分析几十ppm以上的样品，结果不好，应该找找其他原因，而不应该把责任都推给XRF。

  我们一般来说看分析和荧光数据偏差大的话领导就会要求调整，是整条曲线的调，但长期这样调那不是荧光的数据就等于是分析的数据了，那做着还有什么意义。不过领导要这样也没办法，郁闷啊！
  不知道你们公司那边是怎么做的，多谢建议哈。

原文由 ljzllj 发表:

原文由 xiechangwei 发表:

原文由 ljzllj 发表:
1、不知道你们是怎么调整的，调整其中某几点？还是平移整条曲线？
2、这个问题没什么可讨论性。如果仅仅根据某一个或几个点就去调整曲线，肯定是不对的，即使你的结果可能会好。如果是平移整条曲线还可以接受。
3、分析结果不好，应该去找找不好的原因，比如制样过程，压片法还应考虑均匀性、颗粒度、矿物效应和化学分析值的准确性等等。而不是去修改结果。
4、XRF对制样的要求挺高，而且要求“相似标样”，但是经常会被分析者忽视。通常都是简单压个片，然后得出结论：XRF只是定性或半定量分析。这样太武断了。XRF方法已经相当成熟了。XRF分析轻基体（油、聚合物等）的样品，检出限和准确度一样可以达到1ppm或者更低；分析重基体（钢铁、合金等），检出限和准确度也可以达到10ppm。
因此，如果分析几十ppm以上的样品，结果不好，应该找找其他原因，而不应该把责任都推给XRF。

  我们一般来说看分析和荧光数据偏差大的话领导就会要求调整，是整条曲线的调，但长期这样调那不是荧光的数据就等于是分析的数据了，那做着还有什么意义。不过领导要这样也没办法，郁闷啊！
  不知道你们公司那边是怎么做的，多谢建议哈。

想办法把X荧光的结果做好，如果要和化学分析结果做比较，那就要求化学分析的结果一定要准确。
另外，你们做X荧光曲线用的标样不是化学分析定值的吗？

原文由 waterford 发表:
很多时候，当你的领导并不懂技术，还在指挥你的时候，最后按照领导的意思去做。出问题的时候，让他自己兜着。否则一旦你引入新技术，一旦不成熟，出问题的时候你会很惨。