主题:【求助】残余应力测量中的困惑

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XRD
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有一金属膜片,厚约30微米,用力拉伸,在不释放力的情况下将膜片胶固于一个金属基底上。待干固后释放外力,需要测量膜片拉伸方向的应力。

实验方法:用侧倾法,设ψ=0°,15°,°30°和45°。膜片的拉伸方向为衍射方向。

问:这样的测量方法是否正确?
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hsteel
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大陆
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没太看明白您的实验条件。衍射方向和拉伸方向一致指的是?
anyway, 我认为应力测量用XRD不如使用拉伸机更直接,而XRD直接测量的是应变。
另外,试样形状尺寸?因为它决定应力的空间分布,这时是不是要用局部应变测量辅以有限元分析的技术?
qcz9999
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