给我给扫扫盲。。1.衍射仪一般照射面积有多大？
2.粒度分布问题，是指尺寸的一个分布统计？具体指晶粒度还是？
3.现在除了jade还有什么更好的分析微量的软件。。我是指2％左右的。。
4.背底的问题，现在样品做出来背底很高，因为是钢材样品，是不是Fe荧光的原因？
5.2500到底能不能样品不动，靶动啊，做粉末的时候经常因为转样品粉末掉下来。。我就是简单的平铺。。
6.衍射仪测量都是一定深度下的，转角度可以测量不同深度的，我是这么想的，现实不？
问题有点多，我是盲人，大侠们给扫扫盲啊！～～

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2009/12/21 11:34:41 沙发管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

2500的说明书我手头没有，对于你的问题我也抱歉只能回答两条：
1、样品照射束斑直径约5mm，随仪器会有变化；
2、是粉末的尺寸分布，与晶粒尺寸没有直接联系；
3、我认为5%以下的含量分析使用XRD比较冒险，这不是软件的问题；
6、我认为不现实，因为X射线的穿透能力较大，一般测量样品均会被穿透。

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txg9999999999

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2012/6/11 21:25:04 板凳管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

我与楼上的一盲人没基础需要指点谢谢了

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灰灰的天

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2012/6/12 13:10:43 马扎管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

1.照射面积与你使用的发射狭缝和限宽狭缝有关
4.Fe的荧光肯定会造成相对较高的背底
5.要纠正楼主的观念，转靶指的是X射线发生装置，相对与光管类的固定靶可以提供更高的X射线功率，而你想要的样品不动是指的测角仪部分，对于2500来说它是一款theta-2theta型的测角仪，所以你选择2theta/theta的扫描模式时样品一定是会转动的，2500也可以选择单独扫描2theta的模式，但是峰角度会有一定的偏差。如果你想样品不洒落的话，样品的制备是你必须要练习的，粉末样品需要压实并保证与样品架上表面平齐，这样数据角度才能有保证。

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alessandroy

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2012/7/3 13:03:32 地毯管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

1.照射面积与X光源光束尺寸，测角仪半径，所选用的发射狭缝(或入射狭缝)和限宽狭缝有很大关系，这个是可以计算的。并且，一般在低角度下，照射面积会扩大，导致低角度侧背景很高，可以使用一些限制组件来减少背景(如防散射筒等)。
4.如果是钢材样品，Fe的荧光现象会造成衍射背景很高，可以换用其他的X光源靶材(如使用Fe靶)。如果换靶不方便的话，可以改变探测器的波高分析器基线值和窗口值，这样可以有效减低荧光现象的影响，目前很多X射线仪都有所谓的荧光减低测试模式，就是这个原理，对于一般测试要求，这个就足够了。还有就是，使用闪烁计数管比使用半导体型探测器得到的数据背景要低很多，但是要慢扫描。
5.同意ls，您使用的2500是非水平型测角仪(theta/2theta步进模式，样品随着theta角转动)，现在很多仪器使用水平型测角仪(theta/theta步进模式，样品保持水平)，这样样品就不会倾覆了。
6.现在很多衍射仪可以对某些薄膜样品确实可以进行深度分布分析，这与普通的广角衍射测试手段不同。对于粉末样品，一般默认样品分布随机，没有深度上的分布不同。对于块材样品，看过有人做深度分析。
我也是开始学习X射线不久，一点浅见，请指正。

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