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X射线荧光光谱仪（XRF）
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主题：【讨论】关于FP定量法的一点请教

浏览0 回复9 电梯直达
glenjohnson
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发表于：2010/02/09 16:09:43 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
本人是刚接触XRF的新手，想请问大家FP法的详细定量原理是什么？期待解答！
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2010/2/9 16:13:46 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
如果FP法的结果最终会归一，那么是否可以这样认为：样品离检测器的距离与分析结果没有必然关系？（保持足够的灵敏度）
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glenjohnson
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2010/3/2 12:41:58 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
没有人解答啊？
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X荧光
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2010/8/17 10:16:17 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
对于指定的仪器，分析一个已知各元素含量的样品，我们可以通过理论计算的方法，计算出该样品各元素的荧光强度。当然，由于这个计算过程比较复杂，有些参数难于获得，也可以通过少量的标样对这个计算过程进行校正，同样可以获得理论荧光强度。
而所谓FP法，就是这个理论荧光强度计算方法的逆计算过程。我们先获得的实测荧光强度，通过反复迭代来计算得到样品各元素含量，这就是基本参数法。
理论荧光强度计算的准确性，是基本参数法准确性的前提。
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shujun0121
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2010/8/17 16:27:31 地毯 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 glenjohnson(glenjohnson) 发表:
如果FP法的结果最终会归一，那么是否可以这样认为：样品离检测器的距离与分析结果没有必然关系？（保持足够的灵敏度）

我认为测量标样和未知样时，二者的测量条件一致就可以。
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markon_yan
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2010/8/23 16:20:31 地板 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 glenjohnson(glenjohnson) 发表:
如果FP法的结果最终会归一，那么是否可以这样认为：样品离检测器的距离与分析结果没有必然关系？（保持足够的灵敏度）[/quoq

强度和距离的平方成反比啊,大哥,您看有关系么,按你这么说,样品放你家里可以么.开玩笑啊.是有关系的.
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shujun0121
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2010/9/2 16:15:37 6楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
大哥，你这不是抬杠吗？人家说要保持足够的灵敏度，你那放家里还能有强度吗？
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glenjohnson
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2012/5/30 9:36:35 7楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 shujun0121(shujun0121) 发表:
原文由 glenjohnson(glenjohnson) 发表:
如果FP法的结果最终会归一，那么是否可以这样认为：样品离检测器的距离与分析结果没有必然关系？（保持足够的灵敏度）

我认为测量标样和未知样时，二者的测量条件一致就可以。


我也是这么认为，但对于完全没有任何标样校正的FP法呢？
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zhangjiancn
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2012/5/31 22:54:58 8楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
FP法是所谓的理论影响系数法，其特点是应用范围广，不需要或少需要标准样品，具有普遍性；但对于某些样品，分析误差大，略逊于经验系数法。
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专注仪器
sz66779
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2012/7/8 16:23:02 9楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
FP法的英文全称为fundamental parameter method，中文意思是基本参数法，是XRF
上用的一种基体校正方法。基本参数法是应用荧光X射线强度理论计算公式及原级X射线的
光谱强度分布、质量吸收系数、荧光产额、吸收限跃迁因子和谱线分数等基本物理常数，通
过复杂的数学运算，把测量强度转换为元素含量的一种数学校正方法。基于少量标样的基本
参数法，最终结果也可以达到很高的准确性；甚至不用标样也可以进行计算。FP法的好坏
是衡量一个仪器性能的重要依据。
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