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X射线荧光光谱仪（XRF）

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仪器社区 > X射线仪器 > X射线荧光光谱仪（XRF）帖子详情

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主题：【求助】X荧光光谱仪排除干扰方法

浏览0 回复17 电梯直达

cearo

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发表于：2010/05/20 08:03:14 楼主管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

不知道哪位大侠熟练使用热电的x荧光光谱仪，怎么样可以排除耐火材料中Si和Al的相互干扰？

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2010/5/20 8:47:52 沙发管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

这个不好排除，在无素周期表中太近了，有很多相同属性啊。

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2010/5/20 8:48:41 Last edit by sxdjj

cearo

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2010/5/21 7:54:35 板凳管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

那经常有Si,Al总量不错，而单个物质有差异的情况发生，不知大家是如何解决的？

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hsteel

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2010/5/21 21:31:01 马扎管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 cearo(cearo) 发表:
那经常有Si,Al总量不错，而单个物质有差异的情况发生，不知大家是如何解决的？

总量不错指的什么意思？是大多数情况下结果不错，偶尔有误差比较大的吗？你是熔片还是压片？

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ljzllj

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2010/5/22 7:45:53 地毯管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

不知是否用的是EDX，在WDX中使用PET晶体，Si和Al不会有干扰啊。

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tyrantgqy

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2010/5/22 21:43:12 地板管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

总量不错。。。。不会使用了归一化法处理以后的数据吧。。。
至少目前看来WDX对耐才AL Si有成熟的测量方法的。

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cearo

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2010/5/24 8:05:27 6楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

是WDX压片法做的。是用归一法的，还有就是Si和Al的总量和理论值基本一致，而单个元素（Si,Al）的含量差别很大.
当然，这是我在准备自己做压片法标准曲线时的尝试中发现的问题。用压片法制样，以无标样软件测试其数据后，按理论配比加入95%SiO2，再压片法制样，再次使用无标样软件测试其数据，发现Si和Al的总量和理论值基本一致，而单个元素（Si,Al）的含量差别很大。
请问这是因为基体改变引起的，还是说元素间的干扰会加大？

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