5月7日，美国材料研究学会（Materials Research Society，MRS）官方网站的“材料研究当前新闻”（Current research news of Materials News）栏目，以“光栅刷子能清洁原子力显微镜的探针针尖”为题，报道了哈尔滨工业大学化工学院甘阳教授发表在Ultramicroscopy上的原创性研究成果（合作者为墨尔本大学的Franks教授，“Cleaning AFM colloidal probes by mechanically scrubbing with supersharp ‘brushes’”, Ultramicroscopy, Volume 109, Issue 8, July 2009, Pages 1061-1065.）。这是甘阳教授继2009年受邀在《表面科学报告》（Surface Science Reports）上发表独立署名特邀综述后，又一引起国际关注的成果。

该报道称：“清洁原子力显微镜（atomic force microscope，AFM）针尖是AFM可靠成像和力测量的关键。研究者现在发现，具有超尖刺突的标定光栅作为‘刷子’，可用来机械清除AFM探针上的污染物，这是通过把探针在加大力的恒力模式下扫描刺突来实现。这一方法，不但能用来无损、高效地去除有机和无机污染物，而且可以实现污染物去除和探针研究的一步完成。此外，该方法既可用来清洁胶体/颗粒探针，也可以用来清洁标准AFM针尖。”

甘阳教授认为，作为一种新型的表面污染物“定点”清除方法，该方法的应用远不限于清洁原子力显微镜探针，更有望在广泛的表界面研究、微电子等领域中得到广泛的应用。

附件：

哈工大甘阳教授发现纳米刷子可清除AFM探针污染.doc

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2010/6/1 16:32:26 沙发管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

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2010/6/4 11:17:23 板凳管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

很好很强大

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xianweijingyiqi

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2010/6/21 14:06:18 马扎管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

确实很强！

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wisbay

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2010/8/26 11:33:11 地毯管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

可以使用NOVASCAN紫外臭氧清洗机来进行定期的清洗，清洗探针表面的有机物，设备可以用于清洗原子力显微镜探针，扫描探针显微镜标准和表面上常规的油渍层和残留的无机材料，也能用来改变物体表面的疏水性，有助于部件和表面的化学改性，经过氧化和硬化处理的探针有利于在扫描过程中保持探针的几何形状，削尖的探针有利于提高侧向分辨率。需要更多资料的可以加我249387718分享。

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