主题:【求助】透明样品发射率测量问题

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ppddppdd
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最近试验中遇到一个棘手问题,就是透明样品的法向发射率测量问题。样品其实就是硅片。

目前的实现方案:
    硅片压在加热器上加热(例如300度),测量其发射光谱,利用该光谱和标准黑体比较计算发射率。

问题:
  从理论上讲,硅片是透红外光的,因此加热器的背景辐射也透了过来,这就导致了测量得到的发射率偏高。

虽然加热器的背景辐射很容易测量出来,但无法知道样品此时的反射率和透射率(似乎目前国内有测量高温反射率的地方,但还没有测量高温透射率的机构)因此,无法进行计算。

不知道大家有没有什么高招啊?
推荐答案:zwyu回复于2010/09/19
在我的帖子催化泰斗辛勤老师大作,绝对精彩(6楼补充了三部代表性专著)中给出的资料里也有提到红外发射光谱中的样品自吸收的问题。不过该资料中提到用样品支撑片代替黑体做背景的方案不失为一个新的思路。
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ghcily
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建议问题完善一下:楼主是要测量整个红外波段的透射率和反射率吗?还是特定波长的反射率透过率?
可以试试“探测器光谱响应测量系统'。

同样期待答案。
ppddppdd
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2.5um-25um,探测器响应我已经得出了。不过在这里似乎作用不大
zwyu
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对红外发射率的测量不是太了解。但LZ提到的高温透射率,应该可以用高温透射附件来测吧?测起来应该还是比较直接的,国内应有不少有这种附件的单位。再附上一篇光谱发射率测量的文献,供参考。
ppddppdd
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谢谢。
附件中测量发射率的方法和我的基本一致。
不过从原理上而言,应该也只能测量非透明样品的法向发射率。

不知道哪些单位有高温透射附件(针对固体的)?
zwyu
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清华大学化学系就有

原文由 ppddppdd(PPDDPPDD) 发表:
不知道哪些单位有高温透射附件(针对固体的)?
ppddppdd
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zwyu
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在我的帖子催化泰斗辛勤老师大作,绝对精彩(6楼补充了三部代表性专著)中给出的资料里也有提到红外发射光谱中的样品自吸收的问题。不过该资料中提到用样品支撑片代替黑体做背景的方案不失为一个新的思路。
ppddppdd
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谢谢。

方法大概看了一下,基本还属于比较粗的,只能用于定性测量。难于定量。

看来,高精度测量任重而道远啊
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