主题:【已应助】Jpn. J. Appl. Phys.文献一篇

浏览0 回复1 电梯直达
physicshhl
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
悬赏金额:10积分 状态: 已解决
【作者】:Keisuke Saito, Alexander Ulyanenkov, Volkmar Grossmann, Heiko Ress, Lutz Bruegemann, Hideo Ohta, Toshiyuki Kurosawa, Sadao Ueki and Hiroshi Funakubo
【题名】:Structural Characterization of BiFeO3 Thin Films by Reciprocal Space Mapping
【期刊】:Jpn. J. Appl. Phys. 
【年、卷、期、起止页码】:45  (2006) pp. 7311-7314
【全文链接】:http://jjap.ipap.jp/link?JJAP/45/7311/
推荐答案:wangshirf回复于2010/07/16
1111111111
为您推荐
您可能想找: 气相色谱仪(GC) 询底价
专属顾问快速对接
立即提交
可能感兴趣
wangshirf
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
猜你喜欢最新推荐热门推荐更多推荐
品牌合作伙伴