主题:【转帖】GC维护维修经验

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GC维护维修经验

A所有组分峰变小
可能原因 建议措施

1进样针缺陷 使用新针或无缺陷的针
2进样后漏夜 判断漏夜点,维修之
3 MAE UP过大:分流比过大 调整气体流速和分流比
4 分析物质分子量过大,底挥发样品时 提高INJOVEN(主要柱子的最高使
样品的汽化温度过低,或柱温度低 用温度)
5 NPD被污染物(二氧化硅)覆盖 更换铷珠
6NPD温度过高(使用或环境温度),气体不纯 更换铷珠:避免高温使用
7不分流进样,分流阀关闭快:初始OVEN温高
8 检测器与样品不匹配

9样品的挥发 调整样品的的浓度或选择合适的溶剂


B峰伸舌
峰伸舌多右色谱柱过载 减小进样量(可能需提高仪器的sensitivty
使用大容量柱子:提高OVENINJ温度:

增大气体流速

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C峰高峰面积不重复
1进样不重复,偏差大 自动进样器:加强手动进样的练习
2其他峰型变化引起的峰错位,干扰
3基线的干扰
仪器系统参数设定的改变 参数标准化,规范化

D负 峰
1 Detector有数据处理系统信号极性接反 信号连接倒置
2 TCD中,样品导热系数大于载气导热系数 选择数据处理中的“负峰处理”
3 ECD被污染,可能在正峰后跟随负峰 清洗ECD,更换之(若有必要)

E样品的检测灵敏度下降
1色谱柱,衬管被污染,使活性物质灵敏度小将 清洗衬管:用溶剂(优级纯甲醇)清洗色谱柱:更换之(如有必要)
2进样时样品渗漏(对易挥发物质更甚) 查找渗漏点
3 在splite汽化进样中,OVEN初始温度过高 用低于样品溶剂的初始温度;致使样品汽化后扩散加剧,导致撕沸点样品灵敏度下降 使用高沸点溶剂

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F 峰分叉
1 进样过激,不稳定,形成二次进样 练习手动进样:使用自动进样器
2色谱柱安装失败 重新安装
3 spliteless或柱头进样,样品溶剂的混合 使用相同的溶剂
4柱子温度波动 修理稳控系统
5 spliteless进样,量大,时间长。希望用“溶剂 在毛细管色谱柱前端安装5米的去
效应“谱带浓缩时,溶剂的固定相的湿润性差 活化,未覆盖固定液的毛细管
溶剂将在柱子中形成几米长,厚度不等的溶剂带
破坏正常的浓缩,使峰拉宽分叉

J 峰拖尾
1衬管,色谱柱被污染;有活性点 清洗,更换之 (如有必要)
2衬管,色谱柱安装不党,存在死体积 注射甲烷,峰若拖尾,则重新安装
3色谱柱柱头不平 用金刚砂切割,使之平
4固定相的极性指标与样品分析不匹配 换匹配的柱子
5 样品流通路线中有冷井 消除路线中的过低温度区
6衬管或色谱柱中有堆积切割碎屑 清洗更换衬管;切除柱头10cm


7 进样时间过长 缩短之
8分流比低 增大分流比(至少大于20/1)
9进样量过高 减小进样体积或稀释样品
10 醇胺,伯胺,叔胺和羧酸类易拖尾 用极性大的色谱柱;样品衍生处理

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H保留时间漂移
1 温度变化 检查柱温箱的温度
2气体流速变化 注射甲烷,测定载气线速度
3进样口泄露 检查进样垫;判断其他泄露处
4溶剂条件变化 样品,标准品使用相同的溶剂
5色谱柱被污染 切除柱头10cm;高温老化,清洗

I分离度下降
1色谱柱被污染 方法同上
2 固定相被破坏(柱流失) 更换之
3 进样失败 检查泄露,维修之检查吹扫时间
检查温度的适应性;检查衬管
4样品浓度过高 稀释;减少进样量;用高分流比

H溶剂峰拉宽
1色谱柱安装失败
2进样渗漏
3进样量高 提高汽化温度
4分流比低 提高分流比
5OVEN低
6 分流进样时,初始OVEN过高 降低初始柱温,使用高沸点溶剂
7吹扫时间过长(不分流进样) 定义短时间的吹扫程序



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基线问题

A基线向下漂移
1 新安装的柱子,基线连续向漂移几分钟 继续老化
2 检测器未达到平衡 延长检测器的平衡时间
3 检测器或GC系统中其他部分有沉积物被烤出来 清洗之

B 基线向上漂移
1色谱柱固定相被破坏
2 载气流速下降 调整载气压力;清洗压力和流量调节阀

C噪音
1毛细管末插入检测器太深 重新安装色谱柱
2 使用ECD,TCD气体泄露引发基线噪音 检查,维修气路
3 FID ,NPD ,FPD燃气流速或燃气选择不当 高纯燃气,调整流速
4进样口被污染 清洗进样口;更换搁垫;更衬管中的玻璃纤维或硅烷化
5毛细管色谱柱被污染 切除首端10cm;用溶剂清洗色谱柱;更换之
6检测器发生故障 维修,更换之
7检测器电路发生故障 联系生产商或维修机构(专业)

D Offset(基线位置的突然改变
1电源电压波动 使用稳压器
2 电路接口处连接不好 检查,清洗其接口处,拧紧接口
3进样口被污染
4色谱柱被污染
5毛细管末端插入检测器太深
6 检测器被污染

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E毛刺
1 电磁干扰 关闭电磁干扰源
2颗粒污染进入检测器
3气路密封松动,气体泄露 拧紧松动的密封
4检测器内部电路接口或输入,输出信号接口松动 检查,清洗,拧紧接口,更换之
积尘或被腐蚀

F Wander(低频率的噪音)
1温度,压力等环境条件的波动 找到环境因素变化与基线的关系,然后稳定之
2温度控制漂移 测量检测器的温度
3 载气中含杂质(温度稳定时) 更换载气或气体净化器
4进样口被污染
5毛细管被污染
6气体流速控制失灵 清洗或更换气体

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第一篇

气相色谱维修维护经验


要分析和判断色谱仪的故障所在,就必须要熟悉气相色谱的流程和气、电路这两大系统,特别是构成这两个系统部件的结构、功能。色谱仪的故障是多种多样的,而且某一故障产生的原因也是多方面的,必须采用部分检查的方法,即排除法,才可能缩小故障的范围。对于气路系统出的故障,不外乎是各种气体(特别是载气)有漏气的现象、气体不好、气体稳压稳流不好等等,气路产生的“鬼峰”和峰的丢失较为普遍。另外,色谱柱的“老化”过程没有充分或柱温过高,产生的“液相遗失”等“鬼峰”也会频频出现。所以,首先应该解决气路问题,若气路无问题,则看电路问题,色谱气路上的故障,分析工作者可以找出并排除,但要排除电路上的故障则并非易事,就需要分析工作者有一定的电子线路方面的知识,并且要弄清楚主机接线图和各系统的电原理图(尤其是接线图)。在这些图上清楚的画出了控制单元和被控对象间的关系,具体的标明了各接插件引线的编号和去向,按图去检查电路、找寻故障是非常方便的。色谱电路系统的故障,一般是温度控制系统的故障和检测放大系统的故障,当然不排除供给各系统的电源的故障。温控系统(包括柱温、检测器温控、进样器温控)的主回路由可控硅和加热丝所组成,可控硅导通角的变化,使加热功率变化,而使温度变化(恒定或不恒定)。而控制可控硅导通角变化的是辅回路(或称控温电路),包括铂电阻(热敏元件)和线性集成电路等等。
由上所述可知,若是温控系统的毛病,则应首先要检查可控硅是否坏,加热丝是否坏(断或短路),铂电阻是否坏(断或短路)或是否接触不良。其次检查辅回路的其它电子部件。。放大系统常见故障是离子讯号线受潮或断开、高阻开关(即灵敏度选择)受潮、集成运算放大器(如:AD515JH、OP07等)性能变差或坏等等。

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色谱故障的排除既要做到局部又要考虑到整体,有“果”必有“因”,弄清线路的走向,逐步排除产生“果”(故障)的“因”,把故障范围缩小。例如:若出现基线不停的抖动或基线噪音很大时,可先将放大器的讯号输入线断开,观察基线情况,如果恢复正常,则说明故障不在放大器和处理机(或记录仪),而在气路部分或温度控制单元;反之,则说明故障发生在放大器、记录仪(或处理机)等单元上。这种部分排除的检查故障方法,在实际中是非常有用的。
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第二篇

一、 气相色谱故障分析基础
1、 了解气相色谱的相关组成部分;
2、 通晓气相色谱各部分的作用;
3、 清楚气相色谱各部分是如何工作的;
4、 能够清楚判别各部分工作的正常与否;
5、 要严格按照有关规程检修,了解检修过程中应该注意的事项。
二、 故障分析的思路
1、 检修时应该注意的问题:要有安全用电常识,注重自我保护意识,

防止触电事故的发生;
2、 根据发生的故障现象,确定与故障相关联的部分和因素;
3、 注意检修方法,不要轻易拆卸和更换元件,以免扩大和转移故障范围;
4、 故障分析的思路和方法:
⑴、 顺序推理法:根据工作原理进行推理、检查、寻找故障原因;
⑵、 分段排除法:逐个排除,缩小范围,从而找出故障原因;
⑶、 经验推理法:根据维修经验积累,以确定故障的原因;
⑷、 比较检查法:参照正常的机器的有关数据,来确定故障点;
⑸、 综合法:综合使用以上各种方法,直至找到故障源。

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三、 气相色谱故障的种类
1、 气路部分的故障:气体输入不正常,气体的种类不对或纯度不够、气路泄漏、气路堵塞、气路的污染、气路部件的故障、流量设置不当、色谱柱问题等;
2、 主机电路部分故障:启动或初始化不正常、温度控制部分故障、键盘或显示部分故障、开关门不正常、量程衰减设置不当、其它功能性故障等。
3、 检测器输出信号不正常:无信号输出、输出信号零点偏移、输出信号不稳定、输信号数值不对等;
4、 其它故障:气源不正常、电网电压不正常、二次仪表不正常、机械类故障等。
四、 故障的判别
1、 基础:检查寻找故障原因的基础是充分掌握气相色谱故障判别的方法。掌握故障判别方法的基础是熟悉和了解仪器各部分的组成、作用及工作原理;
2、 输入与输出:通常每个仪器的每个部分、部件、甚至是零件都有它的输入与输出,输入一般是指该部分正常工作的前提,输出一般是指该部分所起的作用与功能。
例如:FID放大器它的输入是FID检测器通过离子信号线传送过来的微电流信号,放大器的工作电压,以及放大器的调零电位器;它的输出是经过放大并送到二次仪表的电信号。判别放大器是否正常工作的方法是:
A:如果是输入正常而输出不正常,故障肯定在放大器本身;
B:如果输入输出均正常,则放大器正常;
C:如果输入不正常,则放大器是否正常无法判定。
3、收集与积累:积极收集维修资料、认真做好维修记录、不断积累各类故障判别的方法与经验,并了解、熟悉、掌握、牢记这些方法与经验
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第三篇

氢焰系统常见故障的判断和检查


FID(氢焔检测器)的灵敏度高、死体积小、响应快、线性范围广,能有效地与毛细柱联用,成为目前对有机物微量分析应用最广的检测器。FID检测 系统主要由检测器、检测电路(放大器)和气路三大部分组成,当发生故障或分析谱图不正常时,应首先判断区分问题是出在哪一部分。
  FID系统常见不正常情况有:1、不能点火---问题主要出在气路或检测器;2、基流很大---问题主要出在气路或检测器; 3、噪音很大---气路、检测器和电路出问题都有可能; 4、灵敏度明显降低---气路、检测器和电路不正常都有可能;5、不出峰---气路、检测器、电路不正常都有可能; 6、色谱峰形不正常---进样器、气路、检测器为主要检查对象; 7、基线漂移严重---气路、检测器都有可能; 8、有时有讯号,有时无讯号---问题主要出在电路上。
  一、检查气路:检查 H2(氢气)、N2(氮气)、AIR(空气)流量是否正常,空气流量太小和喷嘴严重漏气就会引起较大的爆鳴声而不能点火;氢气太小,氮气太大会使点火困难和容易熄火; 喷嘴漏气,色谱柱漏气不仅会使点火困难,也会导致灵敏度降低,甚至不出峰;氢气与氮气流量比将明显影响灵敏度;很大氢气流量太大也会造成噪音变大;气路系统不干净,包括进样器污染,检测器污染或色谱柱没有充分老化都会引起基流、噪音较大和基线漂移。在点火时请注意基流大小:在点火前,放大器基线位置尽可能调在记录仪零位及附近, 在不旋动调零电位器的条件下, 点火后, 记录笔偏离零位的距离可指示基流大小,可改变记录仪量程或放大器衰减倍数来确定,一般来说,

点火后H2气调回正常工作值时,基流偏离小于1mV,说明系统十分干净,基流小于10mV,一般还能使用,若基流大于几十mV,就说明系统污染比较严重, 这时噪音、漂移都很大,仪器稳定时间也较长。检查是哪部分受到污染的简单方法,就是分别单独将某一部分的工作温度升高, 若基流明显变大, 该部分就污染严重。气路(包括进样器)中的堵塞和漏气,往往会引出峰不正常;进样器中衬管没有压平也会破坏正常峰形。

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