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ID:handc
行业:其他
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ID:xiaoyang593
原文由 古道西风瘦马(handc) 发表:高分辨的仪器的SEM好像不需要做CRISS CROSS的校正吧?XII有高分辨吗?如果是因为在切换区间的话,测试这个元素的时候将测试模式直接设置成analog就可以避免了。
ID:ljhciq
原文由 xiaoyang593(xiaoyang593) 发表:原文由 古道西风瘦马(handc) 发表:高分辨的仪器的SEM好像不需要做CRISS CROSS的校正吧?XII有高分辨吗?如果是因为在切换区间的话,测试这个元素的时候将测试模式直接设置成analog就可以避免了。这样的话,测定低含量时有什么影响么?因为我们测的是地质样品,含量时常高高低低的
原文由 秋月芙蓉(ljhciq) 发表:做地质样品,清洗很重要,高含量容易带来残留
ID:highspeed_v
原文由 xiaoyang593(xiaoyang593) 发表:请教各位大虾: 我们的仪器刚换过RF电缆,换了新锥,PC电压加大了100并做了交叉校准。但测定Bi,Cr等多种元素时,较高含量的标样(如49ppm的Bi)icps值都为0,或是低很多。难道是含量太高出现自吸现象了么?以往加大电压后都不会出现这种情况的。
原文由 highspeed_v(highspeed_v) 发表:[感觉就是检测器饱和了,50ppm左右是否已经接近Thermo仪器的上限了?当然,你可以人为的把灵敏度降低,积分时间缩短
原文由 xiaoyang593(xiaoyang593) 发表:原文由 highspeed_v(highspeed_v) 发表:[感觉就是检测器饱和了,50ppm左右是否已经接近Thermo仪器的上限了?当然,你可以人为的把灵敏度降低,积分时间缩短仪器的上限是要试验出来的么?平日做的比这个还高些,都出现强度值,只是结果偏低而已,现在是强度值为0,难道工程师维修的时候设定了什么?
ID:popo