主题:扫描探针显微镜SPM这个仪器能分析粉未吗?

浏览0 回复5 电梯直达
xshpeng
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我有一些粉未样品,可以做这实验吗?请各位大侠指教,谢谢!
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清风侠
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原文由 xshpeng 发表:
我有一些粉未样品,可以做这实验吗?请各位大侠指教,谢谢!

当然可以!
zwx20112
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我是做电子探针分析的,我告诉你一个方法:
1.将粉末样放入纯水中充分搅拌匀
2.滴一滴到溶液到双面的电胶布上
3.晒干或风干
4.可以进样扫瞄了
在我们实验室做出过粘土的羽状薄片
zwx20112
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zwx20112
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hansyangts
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原文由 xshpeng 发表:
我有一些粉未样品,可以做这实验吗?请各位大侠指教,谢谢!


AFM分析粉末,不仅能定量的得到纳米颗粒的分布曲线,还能对某一个特定的颗粒进行尺度分析。AFM比较粒度仪而言是不仅可以得到统计值,还可个别特定分析;比较EM而言,AFM在Z方向的精确度要高很多。

可以参考我们一些用户做这方面实验的论文:

http://www.inano.net/infomanager/GB/147.htm

http://www.instrument.com.cn/download/search.asp?keywords=%B0%AE%BD%A8&sel=providercompany&SN=&Submit=%C1%A2%BC%B4%B2%E9%D1%AF
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