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X射线荧光光谱仪（XRF）
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主题：【求助】继续求助：粉末压片制成的样品厚道对测量结果影响多大

浏览0 回复3 电梯直达
2012sandy
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发表于：2011/03/18 20:21:37 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
继续求助：粉末压片制成的样品厚度对测量结果影响多大；
                  公司买的仪器配的软件没有质量影响因子，看国外是有的。
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2011/3/19 6:29:14 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
我们单位正计划购买一台X射线荧光光谱仪
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金水楼台先得月
albert800922
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2011/3/19 9:05:00 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
测定短波长 X 射线时，或者分析主成分为轻元素的样品时，如果样品的厚
度不够，即使测定组成相同的样品，X射线强度也会因样品厚度不同而变化。图
10.6 是 Ni 箔样品中 Ni 的荧光 X 射线强度与试样厚度的关系曲线。在组成不变
的情况下，X射线强度不再随样品厚度增加而变化时的厚度称为无限厚。除了薄
膜分析之外，易受样品厚度影响的典型分析实例是树脂中重金属元素的分析。
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bennaiyou
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2011/3/22 15:52:04 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
质量影响因子，不太了解。
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