主题:【原创】X射线荧光光谱仪基础知识普及(二)XRF工作原理及结构

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金水楼台先得月
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原理
(XRF)仪器由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线 (一次射线),激励被测样品。样品中的每一种元素会放射出的二次X射线,并且不同的元素所放出的二次射线具有特定的能量特性。探测系统测量这些放射出来的 二次射线的能量及数量。然后,仪器软件将控测系统所收集的信息转换成样品中的各种元素的种类及含量。利用X射线荧光原理,理论上可以测量元素周期表中的每 一种元素。


结构

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原文由 金水楼台先得月(albert800922) 发表:
利用X射线荧光原理,理论上可以测量元素周期表中的每 一种元素。


可用于原料药的结构鉴别不?
金水楼台先得月
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利用X射线荧光原理,理论上可以测量元素周期表中的每 一种元素。


可用于原料药的结构鉴别不?

无机分析?有机的应该不行。
影子
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利用X射线荧光原理,理论上可以测量元素周期表中的每 一种元素。


可用于原料药的结构鉴别不?

无机分析?有机的应该不行。


我说的是有机的
无机麦地
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理论上可以测量元素周期表中的每 一种元素
但是实际上主要在哪方面元素测定占有优势?
金水楼台先得月
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原文由 无机麦地(shuiyang88) 发表:
理论上可以测量元素周期表中的每 一种元素
但是实际上主要在哪方面元素测定占有优势?


WDXRF,EDXRF在各领域测定元素各不同,主要看仪器的配置。
bennaiyou
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yuduoling
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小M
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H能够测出来么?能谱对于轻元素H、He、Li、Be等都打不出来
金水楼台先得月
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利用原理理论说可以,对于超轻元素,XRF还有提升的空间。
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