原文由 驰奔(srd2009) 发表:
楼主的问题把JEOLzxj给惊动了:),迷思难解啊,其实驰奔也想弄明白!jeolzxj是正确的。而且确实,相比较没有该配置的电镜而言,在调节机械对中的时候显得方便,非常直观的方式来迅速调节对中,配合波形观察模式,容易找到最佳饱和点,而且更精确!
以下查了一个资料中描述分享一下:emission pattern can be readily observed in a TEM, and some SEMs are also equipped with scanning coils in the gun which permit a very similar visualization of the emission pattern. We provide this kind of "source imaging" feature on our Personal SEMTM and it is my preferred way to optimize the gun. Calling this kind of optimization "saturation" is a reasonably apt way to describe how the emission pattern seems to collapse into a dense spot. You can also accomplish a rather equivalent kind of optimization on a SEM which does not have this source imaging feature by maximizing the beam current under high magnification conditions (typically done by observing the waveform signal). So ideally when microscopists are talking about saturation, they are visualizing this kind of optimization procedure.
原文由 iangie(iangie) 发表:原文由 jeolzxj(jeolzxj) 发表:
"灯丝像的对比度是如何形成的”我不太明白这句话的意思。Gun Coil扫描光阑的时候,一部分电子透过光阑,到达样品产生信号,形成亮区,而光阑孔边缘外面的区域,电子不能通过,无信号,自然就呈暗区。
对, 这分别是光阑内和光阑外的情况. 但是光阑内的像也是强度空间分布的, 靠近中心"灯丝tip"的地方最亮, 光阑内边缘却较暗. "灯丝像的对比度"就是指的这个.
原文由 jeolzxj(jeolzxj) 发表:
你把你说的现象图片发上来大家看看。一般情况下,场发射电镜聚光镜电压调节正确的话,crossover都是一个亮斑,我只见到过钨灯丝不饱和的情况有你说的现象。
原文由 iangie(iangie) 发表:原文由 jeolzxj(jeolzxj) 发表:
我想可能是这样的:电子束是有一定直径的,在扫描到光阑边缘时,有部分会被挡住,一部分下去,相对于中间部分信号就会弱些。
电子束直径应该远小于光阑直径.
我原来的想法是这样的: 当Gun coil 扫描到"正确的位置O点"的时候, W灯丝发射电子束的yield最高, 所以将这个"正确的位置"叫做"针尖tip". 当Gun coil扫描到不正确的位置如A点的时候, 从W灯丝extract出来的电子束yield较低, 所以信号强度随电子束流减小.