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主题：【讨论】对XRD计算的平均尺寸进行统计学处理？

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lqhua80
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发表于：2011/06/01 08:26:43 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
初次接触xrd，扫描一批样品后获得多个图谱，并分别应用谢乐公式计算得到平均晶粒尺寸，如25±0.9、21±0.6等，对于这样的数据（平均数±标准差）大小进行阐述，看到文献里直接给出前者大于后者的结论……能否进行统计学分析，获得二者比较的t值或者p值？请问选择什么统计学方法？
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2011/6/1 11:31:08 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
XRD已经是体分析了,本身就是对多晶样品各晶粒的平均.可以直接比较.
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qcz9999
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2011/6/1 14:55:00 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
“XRD已经是体分析了,本身就是对多晶样品各晶粒的平均.”该解释欠妥吧

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2011/6/1 20:14:53 Last edit by iangie
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2011/6/1 20:13:53 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 qcz9999(qcz9999) 发表:
“XRD已经是体分析了,本身就是对多晶样品各晶粒的平均.”该解释欠妥吧

请解释.
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zhangyang1998
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2011/6/10 13:06:50 地毯 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
按不同的峰，算出的晶粒大小是不一样的，个人认为应该求平均
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iangie
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2011/6/10 16:17:59 地板 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 zhangyang1998(zhangyang1998) 发表:
按不同的峰，算出的晶粒大小是不一样的，个人认为应该求平均

如果用洛伦兹或者高斯卷积计算峰形(或者两者都用),则算出来的晶粒尺寸就是一个值, 不存在什么平均. 在fitting全谱的时候已经平均了. TOPAS BGMN GSAS都是可以的...
除非你要考虑各向异性晶粒尺寸,那可以设置多个方向的晶粒尺寸参数. 也不存在将计算结果再"平均"的过程.

不晓得Jade这种半自动软件有没有卷积计算功能, 还是只能算单峰对应的尺寸.....
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