原文由 sushan617(sushan617) 发表:
SEM与TEM的加速电压差别吗,SEM是30KV(最高),TEM(100-300KV更高)。
TEM中的STEM模式类似于SEM,电子束会聚,200KV,STEM分辨率为0.2nm
原文由 ming198787(ming198787) 发表:
理论上,tem的分辨率应该是和电子波长直接关联的吧;球差是不是实际的透镜加工工艺所限而导致的,我也不是很懂,请教下
原文由 longwood(templus) 发表:
理论上最终受电子波长的的限制,但是现在球差的影响更大,大了两个数量级。
300 keV电子波长 0.02 埃, 无球差校正的电镜300 kV 分辨率大概在2埃左右。
球差不仅仅受限于加工工艺(和光学透镜不一样),主要是磁透镜(磁场)本身的性质,即旋转对称的磁透镜无法消除正球差。
上世纪末开始实用化的基于非圆形(多极)磁透镜的球差校正技术解决了这一问题。所以目前分辨率可以提高到零点几埃,但是里理论分辨率还很远,主要受高阶球差,色差,仪器稳定性,光源相干性等影响。原文由 ming198787(ming198787) 发表:
理论上,tem的分辨率应该是和电子波长直接关联的吧;球差是不是实际的透镜加工工艺所限而导致的,我也不是很懂,请教下