最近在了解CEMS上的微流量检测器(FUJI ZRJ和SIEMENS Ultramat 23均有用到),但还是不了解测定的原理和去干扰气体的原理,如图。
资料上说: 红外光源 7 被加热到 600 ℃时发射出红外线 ,由切光片 5 调制成频率为 25/ 3Hz 的间断光束 ,经测量气室 4 进入检测器的接收气室。接收气室由填充了待测组分的多层串联气室组成 ,第一层吸收红外辐射波带中间位置的能量 ,第二层吸收边界能量 ,二者之间通过微流量传感器 3 连接在一起。当切光片处于"接通"位置时 ,第一层接收气室 11 填充的待测组分吸收红外辐射能量后 ,受热膨胀 ,压力增大 ,气流经毛细管通道流向第二层接收气室 2 ;当切光片处于"遮断"位置时 ,第一层气室填充气体冷却收缩 ,压力减小 ,第二层气室的气流经毛细管通道反向流回第一层气室。切光片交替通断 ,气流往返流经微流量传感器 ,便在检测器电桥两端产生了交流信号 ,信号幅度大小与流经传感器的气体流量成正比 ,而与待测组分的浓度成反比。
微流量传感器中有两个被加热到大约 120 ℃的镍格栅 ,这两个镍格栅电阻和两个辅助电阻形成惠斯通电桥。脉冲气流反复流经微流量传感器 ,导致镍格栅电阻阻值发生变化。
接收气室采用串联型结构是为了消除干扰组分对测量结果的影响。在接收气室中 ,除填充待测组分外 ,还根据被测气体组成填充一定比例的干扰组分。干扰组分在第一、 二两层气室中对红外辐射的吸收 ,产生的压力作用方向相反 ,相互抵消。在
UL TRAMA T23 中 ,还设有第三层接收气室 12 ,其功能是延长二层气室的光程长度 ,吸收红外辐射边缘能量 ,并可通过滑片调整三层气室的透光孔径大小 ,改变红外吸收 ,最大限度地减少某个干扰组分的影响 ,作用相当于一个可调光锥。
我的疑问是:
1、为什么中间谱带的能量是在第一个吸收室被吸收,而第二个吸收室不吸收?两个吸收室之间装有滤波片吗?另外,如果两个气室长短、容量不同,里面干扰组分的含量也不相同,怎么能完全抵消呢?
2、为什么吸收室内不是待测气体的纯组分,而是要加干扰气体的组分呢?怎么确定加入的比例?
刚接触这个,很多东西不懂,希望前辈们能帮忙解答,在此先谢过啦~~