原文由 wuzl 发表:
我觉得大家各自发表自己的意见,也是在学习的过程。楼主所指其实就是SRPES(同步辐射光电子谱),与常规XPS有较大的不同。如测终态谱,测电子态(E,K)等。我也没有具体做过这方面的工作。不过在书上可以查到。也可以问问国家同步辐射中心的搞SRXPS的老师。
楼上回答的不错,再简单阐述一下二者区别:
1) XPS, AES:即以常规X-射线(Mg ka, Al ka)或电子作激发源测定样品表面元素、组成及化学状态。
2)SRPES:以同步辐射光为光电子能谱激发源测定材料表面的电子结构。
对于SRPES模式来说,由于光子能量的连续可调性,同步辐射光电子能谱(光发射谱)实验可以在几种模式下进行,从而可以获得材料表面不同的电子结构信息。
1) EDC模式:光子能量固定的能量分布曲线(Energy Distribution Curves)实验,即以一定能量的光子做激发源,测定样品表面导带和价带的电子能态分布。
2) CFS模式:固定终态谱(Constant Final-state Spectra)实验,即用光子能量扫描而恒定检测某一终态动能的光电子谱,可以用来测量界面形成过程中的表面能带结构和能带弯曲。
3) CIS模式:固定初态谱(Constant Initial-state Spectra)实验,即选择并固定使芯能级到空表面态跃迁最强的初态能量,将光子能量和检测光电子的动能做同步扫描来研究空表面态。