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X射线荧光光谱仪（XRF）

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主题：【讨论】计数率与死时间

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sidianmu

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发表于：2011/11/30 17:13:10 楼主管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

测某一固定样品比如金属纯元素计数率和哪些因素有关？开始的时候计数率很小于是加大管电流可是带来的影响是计数率上去了可是死时间增加很多。该怎么解决这个问题呢？除了管电流还有什么因素影响着计数率和死时间？！

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2011/11/30 22:08:20 沙发管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

纯金属样品，就算是最低的电压电流，也会有相当好的计数率的。
不过由于探测器的计数线性差异，当电流电压逐渐较大后，也会慢慢失去线性，也就是计数率过高而出现死时间。这种情况可以使用遮光片降低计数率的。

该帖子作者被版主 albert800922加 2积分， 2经验，加分理由：应助

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2011/11/30 22:34:32 板凳管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 名字更新中……(liuxuwentiger) 发表:
纯金属样品，就算是最低的电压电流，也会有相当好的计数率的。
不过由于探测器的计数线性差异，当电流电压逐渐较大后，也会慢慢失去线性，也就是计数率过高而出现死时间。这种情况可以使用遮光片降低计数率的。

如何选择滤光片？

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2011/11/30 23:21:04 马扎管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

是波谱还是能谱？波谱好像死时间不会增加多少。如果是能谱，一般厂家也由计数要求的，只要不超厂家告诉你的计数，死时间一般不会超多少的。

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sidianmu

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2011/12/1 10:57:06 地毯管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 名字更新中……(liuxuwentiger) 发表:
纯金属样品，就算是最低的电压电流，也会有相当好的计数率的。
不过由于探测器的计数线性差异，当电流电压逐渐较大后，也会慢慢失去线性，也就是计数率过高而出现死时间。这种情况可以使用遮光片降低计数率的。

现在的问题是通过降低管流减小死时间计数率太低可是增大后死时间又多了这种现象是不是因为探测器与样品的距离和角度有关呀？

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波斯猫

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2011/12/1 20:14:12 地板管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 sidianmu(sidianmu) 发表:
原文由 名字更新中……(liuxuwentiger) 发表:
纯金属样品，就算是最低的电压电流，也会有相当好的计数率的。
不过由于探测器的计数线性差异，当电流电压逐渐较大后，也会慢慢失去线性，也就是计数率过高而出现死时间。这种情况可以使用遮光片降低计数率的。

现在的问题是通过降低管流减小死时间计数率太低可是增大后死时间又多了这种现象是不是因为探测器与样品的距离和角度有关呀？

一般不会吧。
详细说说你的“死时间”情况如何？最好截个扫描时的图上来，大家一起给你观摩观摩

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p_nicholas

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2011/12/8 10:51:25 6楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 sidianmu(sidianmu) 发表:
原文由 名字更新中……(liuxuwentiger) 发表:
纯金属样品，就算是最低的电压电流，也会有相当好的计数率的。
不过由于探测器的计数线性差异，当电流电压逐渐较大后，也会慢慢失去线性，也就是计数率过高而出现死时间。这种情况可以使用遮光片降低计数率的。

现在的问题是通过降低管流减小死时间计数率太低可是增大后死时间又多了这种现象是不是因为探测器与样品的距离和角度有关呀？

LZ的设备用的是模拟多道成型技术还是数字多道成型技术。

首先要明白计数率分为输入计数率和输出计数率，所谓输入计数率即指每秒钟输入的个数，输出则指能检测到的有效的输出个数。为了增加计数率，可以提高管压、管流等方式实现，则输出计数率、死时间也会随之变大，当输入计数率达到一定的值后，会出现拐点，即输出计数率反而会变小，而死时间会急剧增大，这是由于分析方法的局限造成的。可以适当的减小（梯形）成型时间，一般现在都是用的梯形成型的方法来实现分析的。减小（梯形）成型时间的弊端是会造成分辨率会稍微变差，但是相反的死时间会变小。

该帖子作者被版主 liuxuwentiger加 3积分， 2经验，加分理由：热心应助，观点正确

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