实战宝典 原创大赛 仪器问答 仪友会 总帖：8043244今日发帖：17 我的社区 签到
快速导航 采购仪器 提醒
透射电镜（TEM）
版主:
入住本版
专家:
居民列表

主题：【已应助】如何设置能谱线扫结果按成分百分比显示（TIA软件）

浏览0 回复13 电梯直达
jwdeng
头像
结帖率：
100%
关注：0 |粉丝：0
新手级： 新兵
发表于：2011/12/18 14:23:17 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
    在STEM模式下做能谱的线扫给出的都是计数率的曲线，在TIA软件里面进行定量以后，给出的是各个元素的计数率（Counts）随位置的变化曲线（如图）。请问能否设置成按成分百分比（质量或原子分数）的形式显示。
    因为计数率明显是受样品厚度影响的。简单用计数率表示成分的变化感觉不太合适，不知道各位是怎么理解这个问题的。

为您推荐
近期热榜
热门活动
您可能想找: 气相色谱仪(GC) 询底价
选参数 看心得 找厂商 查方案
专属顾问快速对接
立即提交
可能感兴趣
longwood
templus
结帖率：
100%
关注：0 |粉丝：0
新手级： 新兵
2011/12/18 17:40:36 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
EDX?这个基本没戏。TIA这个线扫描或面扫描只能给出定性的比较。
定量的只能一个点一个点手动。
另外TIA也不能输入实验的k factor,只能用程序自带的计算出的，所以不太准。
赞贴
0
收藏
0
拍砖
0
举报
jwdeng
jwdeng
结帖率：
100%
关注：0 |粉丝：0
新手级： 新兵
2011/12/18 20:25:04 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
既然线扫是一个一个点采集出来的，而且每一个点的成分都可以算出来，按理说程序本身给出成分百分比的曲线来应该很容易。
不知道是TIA软件没有这个功能还是没有设置好？请高手指点。
赞贴
0
收藏
0
拍砖
0
举报
longwood
templus
结帖率：
100%
关注：0 |粉丝：0
新手级： 新兵
2011/12/18 20:40:45 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
那就要问FEI了，我研究了几天的结果是没有这个功能。所以我都是一个点一个点的算，差点没累趴下。目前唯一的进展是将谱导成数据格式了(还是用了别人的IDL的script)，看看其他软件能不能处理。
赞贴
0
收藏
0
拍砖
0
举报
2011/12/18 20:42:41 Last edit by templus
蓝莓口香糖
drizzlemiao
结帖率：
100%
关注：0 |粉丝：0
新手级： 新兵
2011/12/18 21:10:38 地毯 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
线扫的信号只有能量窗口里那一小部分，不能用于精度较高的定量计算。要得到沿线各点的成分，需要每个点上都保存一个完整的谱，那是spectrum imaging功能。
赞贴
0
收藏
0
拍砖
0
举报
longwood
templus
结帖率：
100%
关注：0 |粉丝：0
新手级： 新兵
2011/12/19 6:55:03 地板 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
谱是完整的谱，是spectrum imaging扫出来的，但是定量分析时TIA就是只能一个点一个点用手点若干步，即使每个点步骤都相同。或许他们认为定量就必须一个谱一个谱的检查，从peak finding到拟合必须人工检查？

原文由 蓝莓口香糖(drizzlemiao) 发表:
线扫的信号只有能量窗口里那一小部分，不能用于精度较高的定量计算。要得到沿线各点的成分，需要每个点上都保存一个完整的谱，那是spectrum imaging功能。
赞贴
0
收藏
0
拍砖
0
举报
蓝莓口香糖
drizzlemiao
结帖率：
100%
关注：0 |粉丝：0
新手级： 新兵
2011/12/19 9:29:04 6楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
EDS要实现全自动可能有点困难，机器不能自己选元素，除非整个扫描范围内元素种类没变化。
赞贴
0
收藏
0
拍砖
0
举报
小M
mitchell_dyzy
结帖率：
100%
关注：0 |粉丝：0
新手级： 新兵
2011/12/19 23:16:45 7楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
TIA连能谱定量wt% or at%的功能都没有？如果能谱仪不集成到TIA，倒还是可以
赞贴
0
收藏
0
拍砖
0
举报
jwdeng
jwdeng
结帖率：
100%
关注：0 |粉丝：0
新手级： 新兵
2011/12/20 9:14:05 8楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
请大家都来研究一下。不然做个线扫只能给出个各个元素的计数率分布感觉意义打了折扣。
有人说好像可以设置，但是不知道在哪里怎么设置。
赞贴
0
收藏
0
拍砖
0
举报
2011/12/20 9:17:55 Last edit by jwdeng
byb7777
byb7777
结帖率：
100%
关注：0 |粉丝：0
新手级： 新兵
2012/1/4 9:07:02 9楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
我也想知道怎么弄，自己没电镜，去别人那里做得自己说明白了，要不都没法做
赞贴
0
收藏
0
拍砖
0
举报
yueyahappy
yueyahappy
结帖率：
100%
关注：0 |粉丝：0
新手级： 新兵
2015/7/30 15:50:25 10楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 jwdeng(jwdeng) 发表:
    在STEM模式下做能谱的线扫给出的都是计数率的曲线，在TIA软件里面进行定量以后，给出的是各个元素的计数率（Counts）随位置的变化曲线（如图）。请问能否设置成按成分百分比（质量或原子分数）的形式显示。
    因为计数率明显是受样品厚度影响的。简单用计数率表示成分的变化感觉不太合适，不知道各位是怎么理解这个问题的。

请问您这个问题后来解决了么？我现在遇到同样的问题T-T
赞贴
0
收藏
0
拍砖
0
举报
手机版： 如何设置能谱线扫结果按成分百分比显示（TIA软件）
猜你喜欢最新推荐热门推荐更多推荐
头像
高级回复 发表评论
品牌合作伙伴
岛津
日立科学仪器
珀金埃尔默仪器（上海）有限公司（PerkinElmer）
日本电子株式会社
丹纳赫
安捷伦
赛默飞世尔科技
普析通用
欧波同
天美
天瑞仪器
德国耶拿
海能技术
马尔文帕纳科
磐诺科技
上海仪电科仪
梅特勒托利多
聚光科技
莱伯泰科
盛瀚
多宁生物
丹东百特
科哲
卓立汉光
屹尧科技
华谱科仪
宝德仪器
优莱博
HORIBA
布鲁克核磁