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主题：【求助】如何用表面污染C1s对能量进行校正？

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wsnacs
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发表于：2012/05/11 16:16:22 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
刚做了XPS，可是单纯的TiO2样品中出现了Si和C,问老师，老师说要对样品进行校正，请问一下这该怎么做呢，请说哪位大虾详细地给我说一下步骤。还有，在测试结果中，老师还给了一张Quantification Report ，里面的数据我可以直接拿来用吗，还有，这么多数据，比较有用的是哪些呢Peak              Position  FWHM    Raw Area  RSF    Atomic  Atomic  Mass 
                                                BE (eV)    (eV)        (CPS)                    Mass    Conc %  Conc %
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2012/5/11 17:26:55 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
没有人在吗？在即顶一下。。。
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feixiong5134
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2012/5/13 10:39:42 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
你问下老师他们仪器用那个数值校正（一般来说是284.6，284.8和285ev）
那后那这个数值（如为285）减去你表中数值（如为283）的到（2）
那就吧Si和Ti的数值加92），c也变为（285）
此时就是校正后的数据
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yangyang7853
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2013/6/2 1:07:32 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
问哪个老师怎么制样的，可能是样品薄，导电胶上的信号，导电胶上面就是C,O,Si
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