主题:【讨论】CID,CCD会是ICP-OES的终结者吗?

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chauchylan
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CID,CCD会是ICP-OES的终结者吗?
如果不是,下一代检测器会是什么检测器?
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Fe
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其实这几个检测器都是大同小异,但是厂家往往喜欢在这个上面做文章。
xujianguang
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原文由 Fe(scgyjjs) 发表:
其实这几个检测器都是大同小异,但是厂家往往喜欢在这个上面做文章。

CID 好像要好一些 不会造成信号的外漏 对测量结果会好一些 就好像是单反相机上用的 CCD据说是傻瓜相机上用的
popo
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原文由 xujianguang(xujianguang) 发表:
原文由 Fe(scgyjjs) 发表:
其实这几个检测器都是大同小异,但是厂家往往喜欢在这个上面做文章。

CID 好像要好一些 不会造成信号的外漏 对测量结果会好一些 就好像是单反相机上用的 CCD据说是傻瓜相机上用的


呵呵,那一家的单反用CID检测器了啊?被忽悠的不轻啊。

现在相机用的多的应该是CMOS检测器和CCD检测器。
为什么要用CMOS,这个去问专业的数码高手。

所谓的信号外漏,准确的是说法是“溢出”。对于使用者来说您有感觉么?
Fe
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用有的就说他的检测器有个溢流槽,当信号大的时候,就会通过旁边的溢流槽,溜走一部分,然后有的又说我在光路上可以设置一个衰减片,进行衰减后不会到达检测器部分,能保护检测器。


据行家分析这两种检测器差不多的,仪器厂家喜欢用这个来做文章,什么真正的全读啊,光电转换效率高什么的。很多部分都是忽悠人了。现在的厂家都在这些是做文章,并没有在应用和售后上给你一个肯定的保证。
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